smart-1 I-V曲線(xiàn)跟蹤儀曲線(xiàn)兩側(cè)開(kāi)短路測(cè)試

儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司

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價(jià)格：電議

所在地：北京

型號(hào)：smart-1

更新時(shí)間：2023-11-10

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

I-V曲線(xiàn)跟蹤儀曲線(xiàn)兩側(cè)開(kāi)短路測(cè)試失效分析電流電壓測(cè)試1.低的漏電流測(cè)量(例如光二管或太陽(yáng)能電池的暗電流測(cè)量)；2.CMOS,雙性組件,BiCMOS IC 的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量；3.開(kāi)/短路試驗(yàn)。

公司簡(jiǎn)介

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

專(zhuān)業(yè)從事電子產(chǎn)品分析測(cè)試設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售，以及國(guó)外**設(shè)備代理,探針臺(tái)probe 開(kāi)封機(jī)decap 微光顯微鏡emmi 紅外顯微鏡 iv自動(dòng)曲線(xiàn)量測(cè)儀失效分析可靠性測(cè)試FIB,切割研磨機(jī)rie，電子顯微鏡sem等

展開(kāi)

產(chǎn)品說(shuō)明

I-V曲線(xiàn)跟蹤儀 I-V曲線(xiàn)跟蹤儀曲線(xiàn)兩側(cè)開(kāi)短路測(cè)試失效分析電流電壓測(cè)試

主要用途

驗(yàn)證及量測(cè)半導(dǎo)體電子組件之電性參數(shù)及特性,比如電壓-電流、電容-電壓特性曲線(xiàn),

性能參數(shù)

a)512 channel的測(cè)試通道；

b)Force范圍：電壓：0~7V ；電流：0~500mA

c)量測(cè)范圍：電壓：0~10V ；電流：0~500mA

d)測(cè)量精度：電壓：1mV ；電流：10nA；

應(yīng)用范圍

1.低的漏電流測(cè)量(例如光二管或太陽(yáng)能電池的暗電流測(cè)量)；

2.CMOS,雙性組件,BiCMOS IC 的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量；

3.開(kāi)/短路試驗(yàn)。

本頁(yè)產(chǎn)品地址：http://www.521uz.com/sell/show-7904028.html

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