在工業(yè)及科研領(lǐng)域，經(jīng)常需要對(duì)樣品進(jìn)行非破壞性的元素分析，同時(shí)對(duì)分析面積及靈敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，貴金屬檢測(cè)等。 珠寶、牙科合金材料及其他稀有金屬的分析要求，非破壞性而且測(cè)量點(diǎn)小。

德國(guó)斯派克分析儀器公司新推出的  SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀正是滿足了這一要求，可迅速、準(zhǔn)確地提供分析數(shù)據(jù)。根據(jù)市場(chǎng)要求，德國(guó)斯派克分析儀器公司對(duì)儀器進(jìn)行了擴(kuò)展而優(yōu)化，使  SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀在分析性能和使用靈活性方面獨(dú)樹(shù)一幟。

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀采用空冷、低能量X射線管和高分辨率的檢測(cè)系統(tǒng)，集準(zhǔn)直、聚焦、樣品激發(fā)于一體，是功能強(qiáng)大的金屬分析儀，SPECTRO MIDEX適合分析體積很小的稀有金屬或面積較小的樣品。樣品室配有易于調(diào)節(jié)的樣品臺(tái)。通過(guò)20倍變焦攝像機(jī)可地確定測(cè)量位置。儀器配有計(jì)算機(jī)和專業(yè)化的軟件，使操作為簡(jiǎn)便。測(cè)量點(diǎn)直徑為0.7mm,樣品的總測(cè)量時(shí)間不超過(guò)100秒。在測(cè)定稀有金屬合金中的金含量時(shí),樣品的測(cè)量精度為0.15%。  SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀也可滿足快速分析的需要，在2分鐘內(nèi)可完成從鋁到鈾的所有數(shù)十種元素的分析。

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀不僅僅適用于珠寶行業(yè)、貴金屬檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)，海關(guān)商檢、造幣工業(yè)等，還可完成其它分析任務(wù)如：非破壞性檢查，貴金屬分選，電子線路及電氣元件的分析等。

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀創(chuàng)新點(diǎn):

1、附帶FP實(shí)際金屬、貴金屬、RoHS分析、無(wú)鹵化塑膠回歸的檢測(cè)曲線，集多種應(yīng)用于一身。該曲線采用大量金屬及貴金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品繪制，代表性強(qiáng)，實(shí)用性強(qiáng)，準(zhǔn)確度高。分析數(shù)據(jù)可同時(shí)顯示K金值及含量。

2、采用高分辨，高計(jì)數(shù)率，電制冷的SDD檢測(cè)器，實(shí)際分辨率160eV，計(jì)數(shù)率高達(dá)250,000cps，非常適合高含量樣品的分析。該計(jì)數(shù)器具有性及維護(hù)簡(jiǎn)單，無(wú)需繁瑣而危險(xiǎn)的液氮添加過(guò)程。

3、激光配合CCD攝像機(jī)雙定位，樣品分析點(diǎn)可視，可調(diào)。定位精度高。分析點(diǎn)的照片可截屏，出具報(bào)告時(shí)可以粘貼在報(bào)告中。

4、分析速度快，可在180秒內(nèi)完成各類樣品的分析任務(wù)

5、可選配狹縫交換器，測(cè)試點(diǎn)的尺寸可調(diào)，由0.2毫米至3.3毫米。可同時(shí)分析同一樣品的各個(gè)部分，一般分析點(diǎn)的尺寸為1毫米。

6、可選配XYZ微米級(jí)精度全自動(dòng)樣品臺(tái)，完成點(diǎn)，線，面掃描。一次測(cè)量過(guò)程可同時(shí)分別完成多個(gè)樣品的分析。

7、樣品室，可完成樣品的分析，樣品的尺寸可以達(dá)到300*200*150mm（長(zhǎng)*寬*高）。同時(shí)可完成超小樣品1mm樣品的分析

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀1技術(shù)參數(shù)：

激發(fā)

- Mo 靶X光管

zui大功率：30W,zui大電壓：48kV

- 測(cè)量點(diǎn)尺寸

Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm

樣品室

- 可顯示樣品的攝像系統(tǒng)(可調(diào)焦)

- 手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)，樣品定位簡(jiǎn)便

- 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)移動(dòng)的XYZ樣品臺(tái)，

zui大行程240178x160 mm/9.4x7.05.3’’(寬x深x高)，

zui大樣品重量：3kg/6.6 lbs

檢測(cè)器

- Peltier 冷卻的Si 漂移檢測(cè)器:

Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2

- 以Mn Kα線，在測(cè)量計(jì)數(shù)率為

10，000脈沖計(jì)數(shù)時(shí)， 能量分辨率：FWHM< 160 eV

- 微處理器控制的檢測(cè)器和讀出電路

- 脈沖計(jì)數(shù)率可達(dá)250，000 cps

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀1數(shù)據(jù)

- 電壓：95-120V/200-240V,50/60 Hz,

- 光譜儀能耗：200W

- 儀器尺寸 寬x 深 x 高，單位mm

580670740 mm/22.8x26.4x29.1”

- 底座尺寸寬x 深:500550 mm/19.7x21.6 ”

- 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根據(jù)不同配置

分析

- 用于合金元素分析的基本參數(shù)程序FP +

- 塑料及復(fù)合材料的RoHS指令檢測(cè)

環(huán)境條件

周圍環(huán)境溫度：5-30°C （41-85°F）

在20-25°C （68-77°F）下，可達(dá)到標(biāo)定儀器性能

- 在 25°C (77°F)下相對(duì)濕度: 10-80 %，無(wú)冷凝，無(wú)蒸氣腐蝕，防塵

SPECTRO MIDEX能量色散小焦點(diǎn)X射線熒光光譜儀主要特點(diǎn)：

SPECTRO MIDEX X射線熒光能譜儀是新推出的第三代產(chǎn)品，不僅可對(duì)樣品的微小區(qū)域進(jìn)行快速無(wú)損的檢定，還可對(duì)樣品的表面（面積可達(dá)EC標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2倍， 233x160 mm）進(jìn)行樣品分析。

德國(guó) Spectro MIDEX 是目前上性能價(jià)格比合理，使用方便，運(yùn)行成本zui低，儀器穩(wěn)定性的XRF 儀器。德國(guó)Spectro MIDEX 有很多技術(shù)，在此無(wú)法一一列舉，以下僅列一些主要特點(diǎn)：

1、電制冷的 SDD 檢測(cè)器不需液氮制冷。

2、樣品內(nèi)倉(cāng)（475*460*280 mm）可以放或者超小的樣品，對(duì)樣品的形狀沒(méi)有任何要求。

3、采用上照式光管設(shè)計(jì)（X 光管的光束是從上往下照射樣品的），光斑完全電腦控制，通過(guò)攝像頭可在電腦上輕松去選定測(cè)試樣品上的某個(gè)點(diǎn)（這個(gè)優(yōu)點(diǎn)對(duì)于不規(guī)則樣品來(lái)講是有的）；同時(shí)上照式的光管可以避免在測(cè)液體樣品時(shí)發(fā)生泄漏而損壞X 光管的問(wèn)題。

4、攝像頭 20 倍變焦放大；激光束定位，彌補(bǔ)了攝像系統(tǒng)可能的位置偏差。

5、符合 ISO9001, CE… 德國(guó)X 射線安全使用標(biāo)準(zhǔn)

6、不僅可對(duì)樣品的微小區(qū)域所存在的元素進(jìn)行快速無(wú)損的分析鑒定，還可對(duì)樣品的表面（面積可達(dá)EC 標(biāo)準(zhǔn)線路板規(guī)格的2 倍，233*160mm），進(jìn)行元素分析。

7、SPECTRO MIDEX X 射線熒光能譜儀是為滿足多種分析任務(wù)而專門研制開(kāi)發(fā)的微區(qū)分析儀器，靈敏度高，無(wú)破壞性，適合多種行業(yè)及研究領(lǐng)域。

8、分辨率：160ev , 計(jì)數(shù)率：250000cps（目前zui高計(jì)數(shù)率）。

9、軟件驅(qū)動(dòng)的狹縫交換器，分析面積為 0.2/0.5/1/2.5/3.3 mm. 可自由選擇，小焦點(diǎn)聚焦方式，能量無(wú)損失，定位更加，可以測(cè)試到細(xì)小的焊端，引腳和BGA 焊球。

10、儀器拓展性：用戶可自己建立曲線，建立測(cè)試方法，擴(kuò)展性較好，可以使儀器十年都保持，軟件終身升級(jí)。

11、快速測(cè)定：可設(shè)定精度，自動(dòng)控制測(cè)試時(shí)間測(cè)試，測(cè)試時(shí)間短。

12、內(nèi)置近百種不同材質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

23、斯派克公司開(kāi)發(fā)的 TQ-RoHS 軟件，具有強(qiáng)大的分析功能，可以校正多元素重疊，扣除Sb，Sn 及Br，As 分別對(duì)Cd，Pb 測(cè)試的影響，采用康普頓散射內(nèi)標(biāo)法校正（補(bǔ)正）不同的材質(zhì)。