SurfaceSeer I 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS

那諾中國有限公司

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企業(yè)認證：

價格：電議

所在地：上海

型號：SurfaceSeer I

更新時間：2024-09-23

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公司地址：上海市閔行區(qū)老滬閔路1388弄舒也時代廣場C棟320

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產(chǎn)品簡介

KoreSurfaceSeerI是一款高靈敏度的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS，用于絕緣、導(dǎo)電表面的成像分析與化學(xué)成分分析。SurfaceSeerI是研究表面化學(xué)的理想選擇，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。

公司簡介

那諾中國有限公司是一家高科技技術(shù)服務(wù)公司，專注于為大中華區(qū)域（包括中國大陸、香港、澳門和臺灣）的高校、科研院所、企業(yè)研發(fā)與生產(chǎn)提供基于飛行時間質(zhì)譜儀的高性能科學(xué)儀器。我們可以提供高性價比的定制化儀器，因為我們能夠重復(fù)使用現(xiàn)有的設(shè)計模塊，這些來源于我們龐大的、有據(jù)可查的后臺目錄中。這些預(yù)先存在的機械信息，結(jié)合所需要的任何一次性工程，使我們能夠根據(jù)客戶的具體要求生產(chǎn)出價格合理的儀器。我們的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS），不僅適用于實驗室實驗，也適用于現(xiàn)場實時分析。我們的儀器在環(huán)境科學(xué)、工業(yè)和生產(chǎn)、生物科學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體、電子等行業(yè)都有廣泛的應(yīng)用。

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產(chǎn)品說明

Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS，具有高通量分析功能，可用于絕緣、導(dǎo)電表面的成像分析與化學(xué)成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化學(xué)的理想選擇，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。

飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS是非常靈敏的表面分析手段。其憑借質(zhì)譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能，廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、細胞學(xué)、地質(zhì)礦物學(xué)、半導(dǎo)體、微電子、物理學(xué)、材料化學(xué)、納米科學(xué)、礦物學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域。

Kore SurfaceSeer I 是一款高靈敏度飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS，用于絕緣和導(dǎo)電材料表面的成像和化學(xué)測繪。該儀器是研究表面化學(xué)的理想工具，在研發(fā)或工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用中同樣適用。 SurfaceSeer I 使用與 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技術(shù)，但配備了高亮度、高空間分辨率的 25kV 液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源。LMIG 的探頭尺寸≤ 0.5μm，可實現(xiàn)高分析空間分辨率。全自動計算機控制，允許在質(zhì)譜采集期間掃描離子槍，從而可以收集到化學(xué)圖像或圖譜。另外還提供了一個二次電子探測器（SED），用于調(diào)諧初級電子束和 SED 圖像捕獲。

帶有12.7μm重復(fù)單元的銅格柵

SurfaceSeer I 儀器特點：

配備25KV液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源，檢測能力更強，質(zhì)量分辨率更高；
具備表面成像和深度剖析功能；
提供的SIMS材料譜庫包含上千種材料的質(zhì)譜數(shù)據(jù)，可識別未知的化合物和材料；
可同時分析所有元素及有機物，可消除有機物和元素干擾，使譜圖更清晰，檢測限更低，能更有效地分析材料樣品。
專用數(shù)據(jù)處理軟件允許分析數(shù)據(jù)和樣品的化學(xué)構(gòu)成信息進行全面的交互提取，其所有儲存的數(shù)據(jù)都能用于溯源性分析。
表面分析靈敏度高達 1x10⁹ atoms/cm²

SurfaceSeer I 應(yīng)用領(lǐng)域:

表面涂層和處理
電子元件和半導(dǎo)體
電極與傳感器
潤滑劑
催化劑
粘合劑
薄膜等包裝材料
腐蝕研究
大學(xué)教學(xué)與科研

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