產品簡介
X射線顯微鏡相對于傳統X射線檢測系統具有兩個獨特優勢：一是通過相位襯度可以檢測出原子序數相近的材料；二是CT分辨率相較傳統CT高很多，可以對樣品進行非破壞性高分辨率三維檢測
公司簡介
北京拓普升科技有限公司由技術扎實、經驗豐富的電子
展開
產品說明
Xradia 510 Versa 擁有高達 0.7 μm 的真實空間分辨率，
體素大小低至 70 nm ，將接近同步輻射技術水平的成
像性能擴展到了世界各地的重要實驗室。結合先進的吸
收襯度技術和適用于軟材料或低原子序數材料的創新相
位襯度技術，Xradia 510 Versa 的通用性得到提升，以
至能夠突破傳統計算機斷層掃描方法的局限性。
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