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價格：電議
所在地：上海
型號：
更新時間：2022-03-15
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公司地址：上海市嘉定區銀龍路258弄9號樓
張(先生) 銷售經理
艾因蒂克作為多家知名無損檢測設備供應商在中國地區的特約授權或代理，為中國用戶提供了全方位的無損檢測設備及解決方案。我們代理的品牌有：艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超聲波相控陣探傷儀64/128PR、奧林巴斯無損檢測（Olympus NDT）、美國萬睿視（VAREX，原VARIAN和PE）平板探測器及射線管頭、瑞士COMET射線設備（包括德國YXLON便攜式射線機）、法國EFER工業內窺鏡、英國GAPGUN激光間隙測量儀、西班牙波控（WAVECONTROL）電磁強度測試儀EMF等設備的代理。
上海艾因蒂克銷售工業X射線探傷機，萬睿視（Varex）平板探測器（PaxScan® 1515DXT平板探測器、PaxScan®2520DX平板探測器、PaxScan®2530HE平板探測器、PaxScan® 1313DX平板探測器、DR-PaxScan®2530DX平板探測器、PaxScan® 1308DXT平板探測器、PaxScan®1308DX平板探測器、XRD1611平板探測器、XRD1621平板探測器、XRD1622平板探測器、XRD0822平板探測器、XRD3025平板探測器、XRD4343CT平板探測器、XRPad2 3025平板探測器、XRPad2 4336平板探測器）及直線加速器和X射線球管。
艾因蒂克PHASEYE FMC-64全聚焦超聲波相控陣探傷儀64/128PR、超聲波探傷儀（復合材料粘接檢測儀Bo
探頭線、探頭、各種檢測試塊
測厚儀（MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀、45MG超聲波測厚儀、高級多功能超聲波測厚儀38DL PLUS、經濟型超聲波測厚儀27MG、35RDC復合材料粘接檢測儀、便攜式MG2系列腐蝕測厚儀、超聲波測厚儀DM5E、測厚儀CL5）
光譜分析儀（Vanta手持式XRF分析儀、DELTA Professional合金分析儀、DELTA Element分析儀）
工業視頻內窺鏡（EFER FLASH 900、 IPLEX NX、IPLEX GX/GT、IPLEX G Lite、IPLEX TX、IPLEX YS）、法國EFER紫外熒光內窺鏡、磁粉探傷機、反差增強劑，滲透劑等磁粉滲透設備。
我公司維修以下超聲波設備：26mg壁厚儀檢測、售后維修27mg測厚儀、45MG測厚儀檢修、38DL PLUS測厚儀操作手冊、MAGNA-MIKE 8600測厚儀操作視頻、DM5E測厚儀、CL5測厚儀、EPOCH XT探傷儀、售后維修EPOCH 600探傷儀、售后維修EPOCH LTC探傷儀、維修OmniScan MX2相控陣探傷儀、售后維修Ominscan SX相控陣探傷儀、售后維修Phasor相控陣探傷儀、售后維修EPOCH 1000探傷儀、售后維修USN60探傷儀、USM 36探傷儀、USMgo+探傷儀、epoch 6LT探傷儀、EPOCH 650探傷儀
渦流陣列儀器OmniScan MX ECA
渦流陣列儀器OmniScan MX ECA
渦流陣列技術
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數據， 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的
同單通道渦流技術相比，渦流陣列技術具有下列：
· 檢測時間大幅度降低。
· 單次掃查覆蓋更大檢測區域。
· 減小了機械和自動掃查系統的復雜性。
· 提供檢測區域實時圖像，便于數據的判讀。
· 很好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
· 改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據缺陷的不同類型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
渦流陣列軟件
簡單的數據采集和分析顯示
采集模式顯示分析模式顯示
C掃描視圖中的數據采集，可快速有效地檢測缺陷。
分析模式下的數據選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
波幅、相位和位置測量。
可調彩色調色板。
大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規單通道ECT探頭檢測相適應。
校準向導
分步進行。
一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉。
波幅和相位可以根據不同的參考缺陷設定。
報警
３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
可以在阻抗圖中定義不同的報警區形狀（扇形、長方形、環形等）。
自動探頭識別和配置
探頭被連接后，C掃描參數和多路器的順序即可被自動設置。
頻率范圍保護可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。
渦流陣列儀器OmniScan MX ECA
實時數據處理
采集模式顯示分析模式顯示
實時數據插值可以改進缺陷的空間顯示。
使用兩個頻率，可生成一個MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。
數據處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂，因為該處厚度出現急劇的變化。經濾波的數據可以改進檢測效果，特別是對小裂紋而言。
復合材料檢測Olympus推出了一款新開發的粘接檢測OmniScan解決方案：這無疑是復合材料檢測行業中的一大進步。如今，使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經成為現實。這款OmniScan解決方案不僅可地適用于蜂窩結構復合材料的脫膠檢測，還可以進行分層檢測，且結果的程度與脫膠檢測相比絲毫不差。雖然這個解決方案主要為航空航天工業的在役檢測而設計，但是在包括汽車和船舶工業在內的制造業中也非常有用，如：針對復合材料船體的檢測。
已經擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購標準的BondMaster探頭（P14和SPO-5629）及BondMaster線纜，就可以使用這個解決方案完成檢測應用。
我們特別為復合材料的檢測開發定制了MXB軟件。其新添的功能，如：向導和標準化，有助于保持操作的簡潔性。
編碼系統：可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測工件。Olympus提供兩個選項：一個是可好地適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器；另一個是WING掃查器，這款掃查器專門為掃查曲面工件而設計（如：航天飛機的機身），而且因其具有Venturi真空吸盤系統，甚至可以倒置進行操作。此外，裝有步進點擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個系統兼容，從而加強了系統的多用性。
Olympus又一次創新了在屏幕上顯示數據的方法。針對每個C掃描，操作人員可以有兩個視圖選擇：一種是波幅C掃描，不會考慮相位情況，只基于信號的波幅而顯示不同的顏色，這是一個可清晰、有效地探測脫膠缺陷的理想視圖。另一種是相位C掃描，使用0°到360°的彩色調色板顯示相位角的變化，有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示，如：油灰填塞（修補）缺陷或分層缺陷。
技術規格
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渦流模塊的技術規格 |
外型尺寸 （寬 x 高 x 厚） |
244毫米 x 182毫米 x 57毫米 |
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重量 |
1.2公斤（2.6磅） |
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接口 |
1個OmniScan®渦流陣列探頭接口 |
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通道數量 |
32個通道，帶內置多路轉換器 |
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探頭識別 |
自動探頭識別和設置 |
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發生器 |
發生器數量 |
1個（帶內置電子參考） |
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大電壓 |
12 Vp-p，10 Ω |
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工作頻率 |
20 Hz～6 MHz |
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帶寬 |
8 Hz～5 kHz（單線圈中）。同時隙成反比例關系，并通過儀器在多路模式下設定。 |
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接收器 |
接收器數量 |
1個～4個 |
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大輸入信號 |
1 Vp-p |
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增益 |
28 dB～68 dB |
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內置多路轉換器 |
發生器數量 |
32個（８個時隙時，4個發生器同時工作；使用外部多路轉換器時，多達64個） |
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大電壓 |
12 Vp-p，50 Ω |
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接收器數量 |
4個差分接收器（每個8時隙） |
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大輸入信號 |
1 Vp-p |
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數據采集 |
數字化頻率 |
40 MHz |
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采集速率 |
1 Hz～15 kHz（單線圈中）。 速率可由儀器處理能力限制，或通過多路激發模式的延遲設定所限制。 |
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Ａ/D分辨率 |
16比特 |
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數據處理 |
相位旋轉 |
0°～360°，步距為0.1° |
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濾波 |
FIR低通、FIR高通、FIR帶通、FIR帶阻（截止頻率可調）、中值濾波器（在2點～200點之間變化）、平均濾波器（在2點～200點之間變化 ） |
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通道處理 |
混合 |
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數據存儲 |
大文件容量 |
取決于內部閃存空間：180 MB（或者300 MB，可選） |
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數據同步 |
按內部時鐘 |
1 Hz～15 kHz（單線圈） |
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外部步速 |
有 |
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按編碼器 |
單軸或雙軸 |
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報警器 |
報警器數量 |
3個 |
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報警區域形狀 |
扇形、倒置扇形、框形、倒置框形和環形 |
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輸出類型 |
視頻、音頻以及TTL信號 |
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模擬輸出 |
1個（X或Y） |
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