Verifire? MST 激光干涉儀

昆山艾爾發計量科技有限公司

會員指數：

企業認證：

價格：電議

所在地：江蘇蘇州市

型號：

更新時間：2024-09-23

瀏覽次數：1636

公司地址：江蘇省昆山市玉山鎮元豐路232號2號樓一樓

0512-57384361 昆山艾爾發計量科技有限公司(先生)

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產品簡介

Verifire? MST 激光干涉儀：Interferometer System for Multiple Surface Testing

公司簡介

艾爾發成立于2005年4月，是一家集儀器銷售、計量服務、非標檢具、智能測控、在線質量檢測控制的一站式服務公司。艾爾發整合各類資源結合自有專業技術，為制造企業的質量控制提供全套解決方案。

專業支持：
公司擁有一支專業的研發團隊，研發了一系列具有自主知識產權的高端標準儀器以及溯源用標準器具，同時可為用戶提供完善的系統集成服務。

經營理念：
提償以人為本、以用戶為中心、以市場為導向、以科技為基礎，為制造業的質量提升和工業計量領域智能轉化賦能。

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產品說明

Verifire? MST 激光干涉儀提供了一個前所未有的嶄新的測量方式和能力，傳統的激光干涉儀應用是測量兩個面的波前變化，也就是說測量一個由兩個面所形成的腔。

但是，如果所測量的是一個沒有經過鍍膜的平行平板，則就會產生兩個疊加的干涉條紋（三個面的腔所形成），這樣就會干擾標準的位相干涉測量分析。

現在，ZYGO的Verifire? MST 激光干涉儀解決了這一個問題，通過波長調制技術和ZYGO新的傅立葉變換方法，可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。

三平面干涉測量

Verifire? MST 激光干涉儀可以在你的測量中，只要一次數據采集，就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度，同時還能得到平行平板的光學厚度：

? 前表面形貌圖

? 光學厚度變化

? 物理厚度變化和后表面形變

四表面干涉測量

這一技術能夠通過兩次數據采集得到下列結果：

? 前表面和后表面的形貌圖

? 物理厚度變化

? 光學厚度變化

? 折射率變化
- 非線性材料均勻性
- 線性材料均勻性

多表面樣品測量快速、簡單和質量提升

同時測量表面形變和光學厚度變化

平行平板兩側測量就可以得到其均勻性：

? 不需要涂油就可以進行安全、快速測量

? 兩次測量不需要進行調整

的線性材料均勻性測量

快速測量，只需要幾分鐘而不是幾個小時

型號：BZY1-Verifire? MST

貨號：21011301

Interferometer System for Multiple Surface Testing

Verifire?MST laser interferometer enables precise optical metrology of multiple surfaces?simultaneously, including plane parallel components with multiple reflections.

The Verifire? MST starts with the classical interferometer applications.
These applications all measure the wavefront variations between two surfaces, a two-surface cavity.

However, measuring an uncoated parallel plate gives two layered interferograms (a three-surface cavity) that confuse standard Phase Shift Interferometry algorithms.

ZYGO has solved this problem using wavelength shifting of phase, and ZYGO's patented Fourier Transform Phase Shifting Interferometry (FTPSI).

The Verifire? MST can measure two-surface, three- and even four-surface cavities.

Show all of the surfaces, or only the surfaces of interest, all within ZYGO'sMx? software. Artifacts are naturally suppressed using FTPSI, eliminating the need for an extended source.