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價格：電議
所在地：北京
型號：3H-2000PS
更新時間：2017-08-28
瀏覽次數：1097
公司地址：北京市海淀區上地十街輝煌國際1棟607號
黃成龍(先生) 區域經理
吸附、脫附等溫線測定； BET比表面測定(單點/多點法)；
朗格繆爾(Langmuir)比表面； 統計吸附層厚度法外比表面；
BJH法孔容孔徑分布； MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布；
D-R法微孔分析； t-plot法(Boder)微孔分析；
H-K法(Original)微孔分析； MP法(Brunauer)微孔分析；
真密度測試； 粒度估算報告。
介孔材料靜態法比表面及孔徑分析儀測試范圍：
比表面0. 0005m2/g至無上限；
孔徑：0.35-500 nm(微孔常規分析: 0. 35-2nm; 介孔分析: 2nm-50nm; 大孔分析: 50nm-500nm)；
總孔體積：0.0001cc/g至無上限。
測量精度：
比表面積重復精度≤± 1.0%，可幾孔徑重復偏差≤0.02nm，真密度≤±0.04%；外表面積≤± 1.5%。
測試1個樣品和2個樣品的脫氣處理，并且樣品的測試過程和脫氣處理可同時進行；測試系統和脫氣系統相互。
P0：具有的飽和蒸汽壓(P0)測試站，保證分壓測試的高準確性。具有“普通加熱抽真空分子擴散模式”和“分子置換模式”兩種可選功能；分子置換模式相對分子擴散模式效率提高1倍以上，可節省一半以上的預處理時間，解決以往靜態法樣品制備時間長的問題。
氣控閥：采用原裝進口日本SMC氣控閥，徹底杜因電磁閥發熱產生的氣體受熱膨脹問題。
介孔材料靜態法比表面及孔徑分析儀技術：
l P0測試站
具有的飽和蒸汽壓(P0)測試站，保證分壓測試的高準確性。
(靜態法比表面及孔徑分析儀的飽和蒸氣壓測試裝置，：ZL201120136959.X)
l 軟硬件配合，徹底消除揚析沸騰現象
貝士德的渦旋降塵原理的硬件防抽飛裝置，結合軟件防抽飛程序徹底消除易揮發樣品在高真空時的揚析沸騰現象，從而避免了揮發物污染閥門管路后造成系統氣密性下降的情況。
(具有除塵防污染裝置的靜態法比表面及孔徑分析儀，：ZL201320045881.X)
l 可選處理模式
具有外創的樣品預處理普通模式和分子置換模式兩種模式。
(靜態法比表面及孔徑分析儀的凈化預處理裝置，：ZL201120136943. 9)
介孔材料靜態法比表面及孔徑分析儀測試報告：
免責聲明：以上所展示的[3H-2000PS 介孔材料靜態法比表面及孔徑分析儀]信息由會員[北京貝士德分析儀器研究院]自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
