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價格：電議
所在地：北京
型號：BKTEM-Dx
手機：18210063398
電話：010-60414386
更新時間：2024-09-18
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公司地址：北京順義北小營
18210063398 
謝經理(先生) （來電時請說是從給覽網看到我的)
我們為你提供材料表征測量的一系列產品：
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一表征：壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀
2、ZJ-4型d33測量儀
3、ZJ-5型積層壓電測試儀
4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀
5、ZJ-7型高溫壓電測試儀
★壓電極化裝置
1、PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-4片）
2、PZT-JH10/8壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）
3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置（20KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）
4、PZT-FJH20 /3高壓真空，空氣極化裝置（20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣）
★ 壓電制樣裝置
1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2
2、ZJ-D33-SYP30電動型壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）
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第二表征 鐵電材料測量系統及電滯回線測量系統
1、ZT-4C型綜合鐵電測量系統
2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數測試儀
3、JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統
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第三表征 熱電材料分析測量系統及塞貝克系數測試儀
1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統
2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統
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第四表征 介電材料測試系統
1、 常溫介電測量系統，常溫介電材料測試儀
2、 高溫介電測量系統，高溫介電材料測試裝置
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第四表征磁性材料測試系統
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀，ink?url=UN3e5RD3rbIpDKa47MlvqL2ln8jhJ-lujVK-XPrQ1hcsBKqQrmov3FGHiJ9jrl_ZzYfwf0m-TprEJOsiAqm0aK&wd=&eqid=d07bcbc000027d06000000025937c067" target="_blank">熱電材料塞貝克系數測試儀
關鍵詞：熱電材料，Seebeck系數，電導率， 電導率，V-1裝置
產品介紹：
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的領軍設備，是材料計
劃中前沿裝備，是我國科研人員幾十年的精心參與和設計出來的熱電材料
測試儀，其測試性能遠超越外熱電材料測試儀，不僅可以用于塊體材
料同時也可以用于薄材料的測試，是目前高等院校和材料研究所的重要設
備。
對于熱電材料的研究，熱電性能測試是不可或缺的試驗數據。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下:
該裝置由，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
一、適用范圍：
1、地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測均可以測試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
5、擁有自身分析軟件，分析，過程自動控制，界面友好。
6、高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域.
二、技術特點：
·解決高溫下溫控精度不準的問題，靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。
· 溫度檢測可采用J、K型熱電偶，降低測試成本。
·試樣采用獨特的焊偶機構，保證接觸電阻zui小以及測量結果的高重現性。
· 每次可測試1-3個樣品.
· 采用數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。
三、主要技術參數：
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BKTEM-D1 |
BKTEM-D2 |
BKTEM-D3 |
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測量溫度 |
室溫-600℃ |
室溫-600℃ |
室溫-600℃ |
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同時測試樣品數量 |
1個 |
2個 |
3個 |
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控溫精度 |
0.5K（溫度波動:≤±0.1℃） |
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測量原理 |
塞貝克系數：靜態直流電；電阻系數：四端法 |
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測量范圍 |
塞貝克系數：0.5μV/K_25V/K；電阻系數：0.2Ohm-2.5KOhm |
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分辨率 |
塞貝克系數：10nV/K;電阻系數： 10nOhm |
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測量精度 |
塞貝克系數：＜±6％；電阻系數：＜±5％ |
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樣品尺寸 |
塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm |
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熱電偶導距 |
≥6 mm |
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電 流 |
0 to 160 mA |
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氣 氛 |
減壓He |
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加熱電相數/電壓 |
單相，220V， |
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夾具接觸熱阻 |
≤0.05 m2K/W |
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圖1 單一樣品測試系統原理示意圖
圖2 雙樣品測試系統原理示意圖
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