產品簡介
X2# 是一種的在線式X 射線檢測系統，它滿足了當前生產線高速自動化檢測的需求。它利用透射式X射線技術結合的Slice-Filter-Technology (SFT)技術很好地解決了雙面PCB 裝聯及其元件的檢測問題。X2# 的全自動
公司簡介
北京銳峰先科技術有限公司是一家致力于為中國廣大客戶提供先進的半導體設備、SMT設備、LCD設備、易耗品、元器件和完善售后服務的供應商。公司代理一些全球著名的相關產品；擁有一批經驗豐富的銷售和技術服務團隊，并在北京，上海，深圳，西安等地，均有辦事處為客戶提供一系列的產品及技術服務。
公司一貫堅持：
“yi流的產品；yi流的服務；yi流的合作關系”的經營理念；
“顧客滿意，共同發展”的經營目標；
“至誠至信，至新至美”的公司精神；
“團隊合作，以人為本”的核心價值。
通過長期的不懈努力，我們已與很多重要客戶：如一些全球著名半導體芯片制造商像因特爾，三星，富士康，Stataschippac，Bosch，ST，華為，比亞迪等等，以及國內一些重大研究院校等等都建立了長期合作的關系。公司將繼續按照市場經濟的規則要求，不斷地發展和擴大。真誠地希望為廣大客戶提供更多、更好的服務；與更多的供應廠商建立更為廣泛和緊密的合作關系,共同為業界的繁榮與發展作出貢獻.
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產品說明
MatriX X2# In-line X-ray inspection system
MatriX X2# 自動化X 射線檢測系統
透射、3D SFTTM
X2# 是一種先進的在線式X 射線檢測系統，它滿足了當前生產線高速自動化檢測的需求。它利用透射式X射線技術結合Slice-Filter-Technology (SFT)技術很好地解決了雙面PCB 裝聯及其元件的檢測問題。X2# 的全自動檢測應用CAD編制檢查表來建立完備的檢測模型庫。它的運動系統以及圖像采集系統專門為滿足高速化檢測而設計。
X2# 可進行離線編程。MIPS Tune就是其離線編程軟件。它可實現自動CAD導入，CAD編輯及相關參數及檢測方法的設定等。
所有的檢測覆蓋結果可被優化，分析及平衡處理。相關數據匯入專用的檢測數據庫。
MIPS_Process中的MIPS_Verify模塊通過閉環糾錯的方式，使用形象的圖形及檢測圖像來驗證檢測對象有無缺陷，離線或在線狀態都可進行。
此軟件可與AOI系統結合使用。
MIPS_SPC 實時模塊提供可即刻產線反饋的實時制程控制。
產品特點
MATRIX檢測&制程軟件
MIPS 硬件：
多核芯電腦工作站
Windows 7系統
MIPS 檢測平臺
CAD 導入所需自動檢測項目
先進的運算庫應對焊點及元件檢測
Slice-Filter-Technique應對雙面板工藝
自動樹狀分類（ATC）以生成相應規則
離線編程可供AXI 程序生成及模擬，調整和缺陷參考相關目錄
驗證及制程控制
MIPS_Verify link 閉環維修控制
MIPS_Process實時SPC統計
系統特色
在線離線模式皆可設置的高速AXI System
透射式X射線技術結合3D Slice-Filter-Technology （SFT）
3-4 幀圖片/秒
微焦距X射線管（閉管）Max: 150kV/75W
視野可變的3軸可編程運動系統
數字化CMOS平板檢測器 (14位, 分辨率：2k x 2k)
在線式傳送軌道可自動調寬
圖像自動灰階及幾何學調校
條形碼掃描 (1D/2D)
定制化的MES-Interface以實現整體產品的可追溯
選配：可結合MatriX AOI 的模組（自帶SIM技術實現高速線掃描）
應用
電子元器件和焊點檢測
利用其擁有的先進運算庫對電子領域及其PCBA的元件及焊點，混合裝配或芯片級裝配工藝進行有效的檢測
所有SMD標準元件
BGA and QFN封裝的特別運算
冷卻片/散熱片的空洞檢測
規格參數
物理參數
外形尺寸: 1670 mm (H) x 3100 mm (W) x 1760 mm (D)
傳送軌道高度范圍: 890 - 980 mm
重量: 3000 kg
安全環境溫度: 15 °C -32 °C
推薦環境溫度: 20 °C - 25° C
電源功率: max. 6 kW
電源電壓: 400 VAC, 50/60 Hz 3 phase, 16A 或 208 VAC, 50/60 Hz 3 phase, 25 A
外接氣源: 5-7 Bar, < 2 l/min, 濾芯 (30μ),干燥無油
運動系統
高速樣品臺
行程范圍 X,Y: 510 x 410 mm
射線管 (Z) : 0 - 150 mm
X射線 (閉管)
管電壓及管功率: 150 kV/75 W
光點大小: 5 - 7 microns
射線管定位: End window tube
數字圖像檢測器
灰階值分辨率: 14 bit
視頻輸出 : Camera link interface
探測器類型A : CMOS 探測器(1,5k x 1,5k)
有效檢測區域 : 115 x 115 mm
圖像性能
高分辨率設置
透射視野: 0.4" (10 mm) to 1.2" (30 mm)
目標分辨率 (@min. FOV): 3-5 μm
樣品檢測參數
Max. 板尺寸: 20" x 16" (510 x 410 mm)
Min. 板尺寸: 4" x 3" (100 x 80 mm)
Max. 檢測區域: 19"x 16" (480 x 400 mm )
Max 板的重量: 11 lbs (5 kg)
板的厚度: 0.03" - 0.2" (0,8 - 5 mm)
裝配間隙
頂部 (包括板厚): 30 mm
底部 (除去板厚): 50 mm
夾邊預留: 3 mm
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