| 提交詢價信息 |
| 發布緊急求購 |
價格：電議
所在地：廣東 東莞市
型號：MicroLine 300
更新時間：2024-09-05
瀏覽次數：1435
公司地址：中國廣東，重慶，昆山，上海，深圳，香港
張人雷(先生) 總經理
東莞市天測光學設備有限公司（TianCe Optical Equipment Co.,LTD.）是一家專業從事測量儀器銷售和服務的高新技術企業。公司坐落在中國制造業名城廣東省東莞市.公司本著“誠信、專業、務實、創新”的經營理念，堅持“以質量求生存、以信譽求發展”為企業宗旨,為客戶提供高質低價的產品和服務,獲得珠三角客戶廣泛好評。
公司專業從事美國QVI產品、OGP影像測量儀，VIEW影像測量儀（中國區總代）、法國Keron 關節臂三坐標測量儀、等著名品牌測量儀器的銷售、安裝、維修、校正、保養、升級等服務。公司擁有完善的樣品測試中心和方案評估實驗室,可為客戶提供完善的測量解決方案,公司附設200平米的機器展示中心,可為企業，學校及研究機構提供三維尺寸測量，三維激光掃描，測量儀應用培訓等服務。
MicroLine-300是一款桌上型半自動CD測量系統。
主要技術參數：
◆ 測量范圍(XYZ)：標準：200×200×25mm；可選：30030025
◆ 視場內測量精度：10nm(100 鏡頭)；Z軸聚焦范圍：25 mm
◆ 視場內測量范圍：0.5um~400um；
◆ 視場內測量重復性(100 物鏡)： 晶圓上<0.010um(1δ)；
掩模板上0.005um(1δ)；
◆ zui大承重：2kg
◆ 標配鏡頭10，可選鏡頭：5X, 20, 50, 100
MicroLine 300 is a table type semi-automatic CD measurement system .
The main technical parameters :
◆ X,Y,Z Measuring Range (mm): standard :20020025 optio
◆ The field measurement accuracy ：10nm （100 lens ） Z Foucsing Range (mm) : 25
◆ The field measurement range ：0.5um~400um；
◆ The field measurement repeatability （100 lens）：on wafer < 0 0.010m(1δ)；
on mask plate 0.005um(1δ)；
◆ Max Recommanded Load : 2kg
◆ Lens ： standard ：10
optio
MicroLine 系列 主要用于測量半導體、MEMS 晶圓、光刻掩模板等尺寸和涂覆物(多層套刻、圓、對接誤差等)量測。
MicroLine 臨界尺寸測量系統設計應用于半導體和MEMS晶圓以及光掩模CD量測。Microline 系列可自動測量線寬，迭置重合，和其他關鍵尺寸。
MicroLine 裝備有高性能光學顯微鏡，運動平臺，可測量0.5 微米到400 微米大小的產品，測量精度和重復性在10nm （1 σ ，100倍物鏡）。
免責聲明：以上所展示的[MicroLine 300 VIEW MicroLine 300]信息由會員[東莞市天測光學設備有限公司]自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
