TP200 三坐標觸發式測頭

上海量博實業有限公司

會員指數：

企業認證：

價格：電議

所在地：上海

型號：TP200

更新時間：2019-10-22

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公司地址：上海市浦東外高橋保稅區華京路418號杉中科技創業園

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產品簡介

三坐標觸發式測頭，測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。

公司簡介

上海量博實業有限公司以“優質成就價值——Focus On Better Quality”為宗旨，專注于計量檢測和材料分析設備的研究、引進與推廣，公司以深厚的工程技術背景和高效率的資源整合幫助企業在原始設計、開發周期、產品質量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性。

上海量博實業有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區的合作伙伴，憑借種類齊全的產品資源和服務，始終努力為客戶解決日新月異的測量分析技術挑戰，精選測量方法和選擇產品，共同提供適合用戶的定制化系統解決方案，有效推動企業實現既定目標。

上海量博實業有限公司的產品和系統方案廣泛應用于研究實驗室和生產線、質量控制和教育事業、大中型國有企業、汽車行業等，用于評價材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動著先進制造技術的精益求精。

上海量博實業有限公司主營檢測儀器設備有：

==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學三維形貌測量儀；
==>>捷克吉爾-斯派克 GearSpect 齒輪嚙合儀、齒輪檢測中心；

==>>?？怂箍等鴺恕?/span>ROMER關節臂測量機；
==>>瑞士TRIMOS測長儀、測高儀、測長機；
==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測技術研究所淬火層厚度無損測量系統；
==>>德國斯派克SPECTRO直讀光譜儀、德國布魯克Bruker火花光譜儀；
==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測厚儀、便攜式涂鍍層測厚儀；
==>>德國EPK手持式涂覆層測厚儀；
==>>美國FLIR熱成像系統、夜視系統、紅外熱像儀、紅外探測器；
==>>英國施泰力Starrett光學投影儀；
==>>量博LAB全自動顯微硬度測試系統、布洛維硬度機、布氏硬度計、洛氏硬度計、維氏硬度計；
==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀；
==>>量博工業視頻內窺鏡、金相制樣設備；

==>>美國雷泰Raynger紅外測溫儀；

==>>美國OGP多傳感影像測量儀；

上海量博實業有限公司為多種精密檢測儀器設備提供專業的技術服務及售后服務，本著為用戶著想、價格合理、設備質量可靠為宗旨，在機械加工、先進制造、新材料應用、科學研究等前沿領域具有獨特優勢。歡迎來電咨詢：021-50473900。進一步了解產品詳細參數信息，推薦查閱網站http://www.labgages.com。

展開

產品說明

英國雷尼紹Renishaw TP200觸發式三坐標測頭系統

——具有模塊交換功能的小型應變片式測頭

TP200觸發式三坐標測頭系統組件包括：

?   TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
?   TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
?   PI 200測頭接口
?   SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。

TP200三坐標測頭系統特性與優點

?    應變片技術具有無可比擬的重復性和的三維輪廓測量
?    零復位誤差
?    無各向同性影響
?    六向測量能力
?    測針測量距離達100 mm（GF測針）
?    快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖
?    壽命 >1 000萬次觸發

TP200 / TP200B測頭本體

TP200采用微應變片傳感器，實現優異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬次觸發中的可靠操作。
TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。
請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。

Renishaw TP200三坐標測頭技術規格:

摘要	TP200	TP200B
主要應用	需要的數控坐標測量機。	與TP200一樣，但當出現誤觸發事件時。
傳感器方向	六軸：±X、±Y、±Z	六軸：±X、±Y、±Z
單向重復性 (2s μm)	觸發水平1：0.40 μm	觸發水平1：0.40 μm
	觸發水平2：0.50 μm	觸發水平2：0.50 μm
XY（2D）輪廓形式測量偏差	觸發水平1：±0.80 μm	觸發水平1：±1 μm
	觸發水平2：±0.90 μm	觸發水平2：±1.2 μm
XYZ (3D) 輪廓測量偏差	觸發水平1：±1 μm	觸發水平1：±2.50 μm
	觸發水平2：±1.40 μm	觸發水平2：±4 μm
測針交換的重復性	SCR200：±0.50 μm（zui大）	SCR200：±0.50 μm（zui大）
	手動：±1 μm（zui大）	手動：±1 μm（zui大）
測力（測尖）	XY平面（所有模塊）：0.02 N	XY平面（所有模塊）：0.02 N
	Z軸（所有模塊）：0.07 N	Z軸（所有模塊）：0.07 N
超程測力（位移為0.50 mm時）	XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N	XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N
	XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N	XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N
	Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N	Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N
	Z軸（LF模塊）：1.60 N	Z軸（LF模塊）：1.60 N
重量（測頭傳感器和模塊）	22 g	22 g
長加長桿（如配在PH10系列測座上）	300 mm	300 mm
推薦的zui大測針長度（M2測針系列）	SF/EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF	SF/EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF
	LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF	LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF
安裝方式	M8螺紋	M8螺紋
適合的接口	PI200、UCC	PI200、UCC
測針模塊交換架	自動：SCR200	自動：SCR200
	手動：MSR1	手動：MSR1
測針系列	M2	M2

TP200測針模塊：

測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測力。

模塊	SF（標準測力）	LF（低測力）	EO（長超程）
應用	一般使用。	小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。	額外超程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。
備注	測針長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。	測球直徑小于1 mm。	與SF的超程測力相同。測頭Z軸的額外超程為8 mm。