產品簡介
NANOMAP D光學探針雙模式輪廓儀/三維形貌儀集白光干涉非接觸測量法和大面積SPM掃描探針接觸式掃描成像于一個測量平臺。
公司簡介
億誠恒達科技有限公司，是一家專門代理經銷進口科學儀器、測試測量設備的高科技企業，所經營的產品涵蓋材料科學、化學分析、綠色能源、半導體及微電子科學等領域。公司本著“誠信、務實、品質、服務”的經營理念，已經為國內許多用戶提供了先進的儀器設備，專業的技術咨詢和完善的售后服務。
公司主要代理產品有：
公司主營：氣體純化器，儲氫材料PCT測試儀，電化學工作站，恒電位儀，多通道電化學工作站，旋轉圓盤環盤電極RDE，石英晶體微天平QCM，掃描探針顯微鏡，原子力顯微鏡AFM，CMP化學機械拋光設備，摩擦磨損試驗機，三維形貌儀，輪廓儀，臺階儀，疲勞試驗機，材料試驗機，扭轉彎曲試驗機，扭矩測試儀等。
北京億誠恒達科技有限公司，位于北京海淀中關村核心區域，是一家專門代理經銷進口科學儀器、測試測量設備的高科技企業，所經營的產品涵蓋材料科學、化學分析、綠色能源、半導體及微電子科學等領域。公司本著“誠信、務實、品質、服務”的經營理念，竭誠為國內廣大用戶提供先進的儀器設備，專業的技術咨詢和完善的售后服務。
公司擁有國際貿易和商務物流管理的專業人才，可提供代理進出口、代辦免稅手續、代辦報關、運輸、保險、商檢等服務。也可提供國際貿易等方面商務咨詢服務。
北京億誠恒達科技有限公司愿與客戶攜手，共創美好未來！
材料試驗機，疲勞試驗機，沖擊試驗機，電化學工作站，恒電位/恒電流儀，石英晶體微天平，三維形貌儀，輪廓儀，原子力顯微鏡（AFM），掃描探針顯微鏡（SPM），摩擦磨損試驗機，瓶蓋扭矩測量儀，軸承扭矩測量儀，高頻疲勞試驗機。
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產品說明
NANOMAP D
光學探針雙模式輪廓儀/三維形貌儀集白光干涉非接觸測量法和大面積SPM掃描探針接觸式掃描成像于一個測量平臺。是目前功能，技術的表面三維輪廓測量顯微鏡。既有高度和準確度的局部（Local）SPM掃描，又具備大尺度和高測量速度；既可用來獲得樣品表面垂直分辨率高達0.05nm的三維形態和形貌，又可以定量地測量表面粗糙度及關鍵尺寸，諸如晶粒、膜厚、孔洞深度、長寬、線粗糙度、面粗糙度等，并計算關鍵部位的面積和體積等參數。樣件無須專門處理，在高速掃描狀態下測量輪廓范圍可以從1nm 到10mm。由于采用獨特的縫合技術，無論怎樣的表面形態、粗糙程度以及樣品尺寸，一組m×n圖像可以被縫合放大任何倍率，在高分辨率下創造一個大的視場，并獲得所有的被測參數。
光學探針雙模式輪廓儀/三維形貌儀應用領域覆蓋了薄膜/涂層、光學，工業軋鋼和鋁、紙、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介質和半導體等幾乎所有的材料領域。 隨著微細加工技術的不斷進步,微電路、微光學元件、微機械以及其它各種微結構不斷出現，對微結構表面形貌測量系統的需求越發迫切, NanoMap-D
光學探針雙模式輪廓儀/三維形貌儀所具備的雙模式組合，結合了白光干涉非接觸測量及SPM掃描探針掃描成像于一體，克服了光學測量及掃描探針接觸式的局限性，并具有操作方便等優點成功地保證了其在半導體器件，光學加工以及MEMS/MOEMS技術以及材料分析領域的地位。 NANOMAP D
光學探針雙模式輪廓儀/三維形貌儀經過廣泛嚴格的檢測，確保其作為測量儀器的標準性和性，并保證設備的各種功能完好，各個部件發揮出色。用NIST標準可以方便快捷地校驗系統的精度，所校準用的標樣為獲得美國標準局( NIST) 的計量單位的認可。 NanoMap-D
光學探針雙模式輪廓儀/三維形貌儀配備的軟件提供了二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計算、曲率計算、模擬一維分析、數據輸出、數據自動動態存儲、自定義數據顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集、分析、處理和可視化數據。表面統計的計算包括峰值和谷值分析。基于傅立葉變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項式配置、數據配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。用于階越高度測量的地區差異繪圖。 NANOMAP D光學雙模式輪廓儀/三維形貌儀主要功能及應用:
定量的面積（空隙率，缺陷密度，磨損輪廓截面積等）、體積（孔深，點蝕，圖案化表面，材料表面磨損體積以及球狀和環狀工件表面磨損體積等）、臺階高度、線與面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數等測量數據。
薄/厚膜沉積后測量其表面粗糙度和臺階高度,表面結構形貌, 例如太陽能電池產品的銀導電膠線
亞微米針尖半徑選件和埃級別高度靈敏度結合，可測量溝槽深度形貌。
分析軟件可輕易計算40多種的表面參數，包括表面粗糙度和波紋度。計算涵蓋二維或三維掃描模式。
可從測量結果中計算曲率或區域曲率
測量薄膜應力，能幫助優化工藝，防止破裂和黏附問題
無論是二維面積中的坡度和光滑度，波紋度和粗糙度，還是三維體積中的峰值數分布和承載比，本儀器都提供相應的多功能的計算分析方法。
的功能性檢測表面特征，表面特征可由用戶自定義。一旦檢測到甚至細微特征，能在掃描的中心被定位和居中，從而優化缺陷評價和分析。
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