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JKZC-YDZK50M型1000℃高溫阻抗分析儀日期：2023-11-15 點擊：408 查看原圖  簡介：
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JKZC-YDZK50M型1000℃高溫阻抗分析儀
關鍵詞：阻抗，高溫，導納圖，掃描,50MHZ
JKZC-YDZK50M型1000℃高溫阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的阻抗分析儀，是一款能夠應用于材料測試的多功能復合型阻抗分析儀，該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具，可以測試粉末，液體，塊體等多種不同類型的樣品。常溫下測試數據豐富，高溫下測試數據穩定，無漂移。是一款兼顧中高端頻率的阻抗分析儀。在陶瓷及材料生產中和科研院校廣泛使用。
一、主要應用：
1、材料測試：高溫及常溫介電常數、彈性常數等C-V特性
2、高溫及常溫無源元件測試：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
3、高溫及常溫半導體元件：LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
4、高溫及常溫其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估
5高溫及常溫介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
6、高溫及常溫磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
7、高溫及常溫半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
二、主要特點：
1、高溫及常溫進行材料測試阻抗各參數測試：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點F1與F2、導納Gmax、靜電容C0、動態電抗R1、動態電容C1、動態電感L1、自由電容CT、自由介電常數、機械品質因素Qm、機電耦合系數Keff、Kp、K31、K33等
2、多種探頭滿足壓電陶瓷，液體，及粉末相關電學性能測試
3、高溫夾具及常溫測試裝置，設計精巧靈活，測試數據可靠
4、50MHZ高頻阻抗頻率滿足高端測試需求
5、1000攝氏度高溫條件下測試數據穩定無漂移，曲線與溫度對應
6、軟件功能豐富，數據即讀取，方便快捷
三、主要技術參數：
1、頻率范圍：20HZ-50MHZ
2、溫度：室溫-1000℃
3、阻抗參數：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點F1與F2、導納Gmax、靜電容C0、動態電抗R1、動態電容C1、動態電感L1、自由電容CT、自由介電常數、機械品質因素Qm、機電耦合系數Keff、Kp、K31、K33等
4、電極材質:鉑銥合金(樣品有無電均可以測試)同軸屏蔽層
5、上電極 直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層
6、下電極： 直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層
7、保護電極： 消除寄生電容、邊界電容對測試的影響
8、電極干擾屏蔽： 電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩
9、夾具升降控制： 帶程序和手動控制，可換夾具的電動升降裝置
10、熱電偶: 雙探頭
11、無電極樣品尺寸 : 直徑小于40mm，厚度小于8mm
12、帶電極樣品尺寸: 直徑小于26mm，厚度小于8mm
13、軟件功能：自動分析數據，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成系統所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件
14、測量方案 提供靈活、豐富的測試設置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合
15、接口方式：包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口，
16、外形尺寸: L360mm*W370mm*H510mm
17、凈 重: 22KG
