CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
- 涂鍍層厚度測量和/或成分分析，元素范圍 Ti - U
- 可同時進行多達15層元素成分分析
- 測量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987
- 應用
- 多鍍層金屬厚度測量
- 合金鑒定及化學分析
- 電鍍液分析
- 金成色分析
- 特點
- 標準50瓦微焦X射線管
- 計數率增加，精度提高
- 可升級75瓦光管
- 多準直器
- 計數率和光斑尺寸之間的最佳平衡
- 鐳射聚焦
- 改善系統再現性（消除人為干擾）
- 標準FP軟件包
- 綜合應用模式
- 簡單校準
- 開槽式設計樣品臺，自動尋找適合所設定焦距的Z軸坐標
- 提供中文等7種語言界面
- 規格
- X射線激發
- 50 瓦微聚焦鎢靶 X 射線管
- 探測器
- 氙氣填充的正比計數器
- 數字脈沖處理
- 4096 多道數據分析功能
- 自動信號處理，包括死時間修正
- 計算機
- 奔騰 D，3.0 GHz，160 Gb 硬盤，512Mb 內存，MicrosoftTM XP 系統 **同等配置或更好
- 電源
- 85~130 或 215~265 伏， 頻率范圍：47Hz - 63Hz
- 工作環境
- 50°F （10°C） - 104°F （40°C） ，相對濕度達98%，非凝固狀態
- 工作臺行程（XYZ 軸可調節）
- 6" x 7" x 1.9" （15.2cm x 17.8cm x 4.8cm）
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