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公司名稱：江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯系人：許經理
電話：0512-50355809
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地址：江蘇昆山市玉山鎮中華園西路1888號
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EDX2000A 五金衛浴鍍層厚度測厚儀
產品簡介：五金衛浴鍍層厚度測厚儀是一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統的鍍層測厚設備，不僅在常規的傳統電鍍上表現geng加顯現，geng能hen好地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方，通過自動化的X軸丫軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形
價格：面議
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EDX2000A PCB板鍍層厚度檢測儀
產品簡介：PCB板鍍層厚度檢測儀采用jinkougao分辨率的FAST SDD探測器，高達140ev分辨率，能準確地解析每個元素的特征信號，針對復雜底材以及多層復雜鍍層，youshijuda。Jinkou的gao功率da高壓單元搭配jinkou大功率X光管，能hen好的保障信號輸出與激發的穩定性。Gao準確度自動化的X軸，Y軸以及Z軸的三維聯動，更準確地完成對弧形、拱形
價格：面議
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EDX2000A 天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀
產品簡介：天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀是一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統的鍍層測厚設備，不僅在常規的傳統電鍍上表現geng加顯現，geng能hen好地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方，通過自動化的X軸丫軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形
價格：面議
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EDX2000A 國產微區電子電路鍍層厚度膜厚儀
產品簡介：國產微區電子電路鍍層厚度膜厚儀是一款上照式膜厚測試儀，能hen好地滿足半導體、芯片、電子電路及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方，通過自動化的X軸丫軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦準確分析。
價格：面議
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EDX600PLUS 工業電鍍鍍層測厚儀
產品簡介：工業電鍍鍍層測厚儀測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行準確檢測，幫助企業準確核算成本及質量管控。
價格：面議
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EDX600PLUS X射線金屬化陶瓷鍍層測厚儀
產品簡介：X射線金屬化陶瓷鍍層測厚儀EDX 600 PLUS是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，zhuan 門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。
價格：面議
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EDX-V 引線框架鍍層厚度測量儀
產品簡介：引線框架鍍層厚度測量儀通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數法(FP 法)。晶圓微區鍍層厚度測厚儀可在不損壞樣品的情況下進行非接觸式測量。而且測量時間較短， 僅為3-20s。
價格：面議
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EDX-T 天瑞多準直孔鍍層膜厚儀
產品簡介：天瑞多準直孔鍍層膜厚儀配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，不僅能展現測試部位的細節，也能呈現出gao清廣角視野；zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。
價格：面議
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EDX2000A 金屬化陶瓷鍍層非接觸測厚儀
產品簡介：金屬化陶瓷鍍層非接觸測厚儀EDX2000A 能量色散X熒光光譜儀(全自動微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦 jing 準分析。
價格：面議
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EDX-V 印刷線路板鍍層厚度測量儀
產品簡介：印刷線路板鍍層厚度測量儀通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數法(FP 法)。晶圓微區鍍層厚度測厚儀可在不損壞樣品的情況下進行非接觸式測量。而且測量時間較短， 僅為3-20s。
價格：面議
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EDX600PLUS X射線光譜膜厚儀
產品簡介：X射線光譜膜厚儀EDX 600 PLUS是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，zhuan 門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。
價格：面議
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EDX600plus 鎳合金鍍層測厚儀
產品簡介：鎳合金鍍層測厚儀針對多鍍層與復雜合金鍍層的測量，在準直器的選擇上，無損鍍層厚度測厚儀它可以搭配的準直器geng?。?.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm 等等。
價格：面議
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EDX600plus 鍍金鎳銅厚度膜厚儀
產品簡介：鍍金鎳銅厚度膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，zhuan門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。
價格：面議
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EDX-V 能量色散鍍層厚度光譜測試儀
產品簡介：能量色散鍍層厚度光譜測試儀通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數法(FP 法)。晶圓微區鍍層厚度測厚儀可在不損壞樣品的情況下進行非接觸式測量。而且測量時間較短， 僅為3-20s。
價格：面議
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EDX-T 晶圓硅鍍鎳銀厚度膜厚儀
產品簡介：晶圓硅鍍鎳銀厚度膜厚儀是一款上照式X射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，不僅能展現測試部位的細節，也能呈現出gao清廣角視野；zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。
價格：面議
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EDX-T 多導毛細管鍍層膜厚儀
產品簡介：多導毛細管鍍層膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術，研發的一款quan xin 上照式X射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，不僅能展現測試部位的細節，也能呈現出gao清廣角視野；zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進
價格：面議
