Ф30，Ф45，Ф60，Ф80，Ф100，Ф150，Ф200，Ф250，Ф300 平面平晶，一級平晶

產品/服務：Ф30，Ф45，Ф60，Ф80，Ф100，Ф150，Ф200，Ф250，Ф300 平面平晶，一級平晶
型號：Ф30，Ф45，Ф60，Ф80，Ф100，Ф150，Ф200，Ф250，Ф300
品牌：南京山特
單價：面議
更新日期：2024-09-18
有效期至：長期有效
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產品簡介

平面平晶，一級平晶產品型號：Ф30mm；Ф45mm；Ф60mm；Ф80mm；Ф100mm；Ф150mm；Ф200mm；Ф250m；Ф300mm；Ф350mm；Ф400mm；Ф500mm；Ф600mm...

產品詳細介紹

平面平晶，一級平晶

產品名稱：平面平晶一級平晶
產品型號：Ф30mm；Ф45mm；Ф60mm；Ф80mm；Ф100mm；Ф150mm；Ф200mm；Ф250mm；Ф300mm；Ф350mm；Ф400mm；Ф500mm；Ф600mm

簡介

具有兩個（或一個）光學測量平面的正圓柱形或長方形的量規。光學測量平面是表面粗糙度數值和平面度誤差都小的玻璃平面，它能夠產生光波干涉條紋（見激光測長技術）。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差，平晶用光學玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為45～150毫米。其光學測量平面的平面度誤差為：1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。

平面平晶：是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。

平面平晶：用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學零件、平臺、平板、導軌、密封件等。亦可用于檢定的平面零件。

平面平晶：特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。

平面平晶的技術參數

產品名稱	平面直徑d（mm）	工作面平面性（μm）
平面平晶	30	0.03
平面平晶	45
平面平晶	60
平面平晶	80
平面平晶	100	0.05
平面平晶	150
平面平晶	200
平面平晶	250
平面平晶	300	0.08

平面平晶主要和NG-C2鈉光燈箱配套使用，用于以干涉法檢驗塊規、量規、零件密封面、測量儀器以及測量工具量面的研合性和平面度，適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、加工車間、閥門密封面現場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。

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平面平晶，一級平晶產品型號：Ф30mm；Ф45mm；Ф60mm；Ф80mm；Ф100mm；Ф150mm；Ф200mm；Ф250m；Ф300mm；Ф350mm；Ф400mm；Ф500mm；Ф600mm...

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