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價(jià)格:電議
所在地:北京
型號(hào):
更新時(shí)間:2022-06-06
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董(女士)
我公司目前的主要產(chǎn)品為X-射線散射及衍射專業(yè)領(lǐng)域的所有應(yīng)用產(chǎn)品,主要包括生物大分子、小分子及高壓全套單晶衍射儀(XRD)、粉晶衍射儀(XRD),小角廣角X射線散射儀(SAXS/WAXS)、X射線成像,及配套的高低溫設(shè)備,高壓設(shè)備,拉伸裝置,X-光強(qiáng)度測(cè)試儀,各種配套用測(cè)角儀和樣品臺(tái),較新性能的探測(cè)器等全系列X射線結(jié)構(gòu)分析類產(chǎn)品。
儀器設(shè)備的應(yīng)用覆蓋從基礎(chǔ)研究到工業(yè)質(zhì)量控制的材料性能表征,涉及元素分析,材料研究,結(jié)構(gòu)分析等等, 我們通過(guò)提供高度,高分辨率的儀器設(shè)備來(lái)保證包括化學(xué),化工,冶金、石油,材料,制藥,半導(dǎo)體,生命科學(xué),納米技術(shù)的企業(yè)客戶和學(xué)術(shù)研究單位對(duì)單晶及粉晶的結(jié)構(gòu)分析及各類材料的小角廣角散射分析的高端及創(chuàng)新型的科研需要。
- 對(duì)新型化合物、 催化劑、 醫(yī)藥, 天然產(chǎn)物,蛋白質(zhì),核酸等需明確表征分子的三維(3D)原子 結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)分析等
- 無(wú)機(jī)晶相,有機(jī)晶相,多功能材料等的物相定性、定量分析,礦物的X射線定性、定量分析等
- 納米結(jié)構(gòu)分析(形狀、尺寸和內(nèi)部結(jié)構(gòu)),分散穩(wěn)定性,顆粒成核現(xiàn)象,孔隙度(比表面),結(jié)晶度和取向,溶液中的生物大分子(Bio-SAXS),納米結(jié)構(gòu)表面 (GISAXS)等。
我公司以提供的誠(chéng)信、質(zhì)量、效率為追求目標(biāo),以高新技術(shù)為依托,本著“信譽(yù)、客戶至上”的原則,提供專業(yè)的產(chǎn)品、 技術(shù)服務(wù)與支持,滿足客戶日益復(fù)雜化和多樣化的需求。
歡迎來(lái)電來(lái)函咨詢有關(guān)業(yè)務(wù)。我們將以飽滿熱忱的服務(wù)讓您滿意!
1、產(chǎn)品特點(diǎn):
DECTRIS EIGER2 X/XE光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器將混合像素科技中的最新發(fā)展成果轉(zhuǎn)化成卓越的探測(cè)性能。歸功于其高達(dá)2000Hz的幀率,低于100ns死區(qū)時(shí)間的無(wú)損探測(cè),以及單像素點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)帶來(lái)的理想計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)率,使得該探測(cè)器能在線站上采集極為準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
新型的EIGE2R X/XE 系列探測(cè)器可以為要求極為苛刻的同步輻射應(yīng)用提供極致的探測(cè)性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力以及千赫茲幀速率的成像能力為時(shí)間分辨類實(shí)驗(yàn)和XPCS提供了一種全新的手段,使得像ptychography類的慢速掃描成像技術(shù)成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實(shí)驗(yàn)受益于較小的成像尺寸,通過(guò)X射線的直接轉(zhuǎn)換可以獲得卓越的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)。在理想情況下每單位面積的最高計(jì)數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波束線亮度相匹配。
2、核心優(yōu)勢(shì):
- 混合成像計(jì)數(shù):?jiǎn)喂庾映上裼?jì)數(shù)模式下的X射線直接轉(zhuǎn)換能力
- 千赫幀速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空間分辨率
- 優(yōu)秀的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)
- 無(wú)讀出噪聲和暗電流
- 極其緊湊的外殼
3、應(yīng)用領(lǐng)域:
-X射線光子相關(guān)光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術(shù)
- 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)
- 大分子晶體學(xué)(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
技術(shù)參數(shù):
|
型號(hào) |
EIGER2 X 500K |
EIGER2 X 1M |
EIGER2 X 4M |
EIGER2 X 9M |
EIGER2 X 16M |
EIGER2 XE 9M |
EIGER2 XE 16M |
|
有效面積:寬x高 [mm2] |
77.1 x 38.4 |
77.1 X 79.7 |
155.1 x 162.2 |
233.1 x 244.7 |
311.1 x 327.2 |
233.1 x 244.7 |
311.1 x 327.2 |
|
像素大小 [μm2] |
75 x 75 |
||||||
|
總像素?cái)?shù)量 |
1028x512 |
1028x1062 |
2068 x 2162 |
3108 x 3262 |
4148X4362 |
3108 x 3262 |
4148X4362 |
|
間隙寬度, 水平/垂直(像素) |
-/- |
-/38 |
12 / 38 |
12 / 38 |
12 / 38 |
12 / 38 |
12 / 38 |
|
最大幀頻* [Hz] |
2000 |
2000 |
500 |
230 |
130 |
550 |
550 |
|
計(jì)數(shù)器深度 [ bit ] |
16 |
16 |
16 |
16 |
16 |
16 |
16 |
|
讀出時(shí)間 |
連續(xù)讀數(shù) |
||||||
|
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) |
1 pixel |
||||||
|
傳感器材料 |
Si |
||||||
|
傳感器厚度 [μm] |
450 |
||||||
|
能量范圍 [keV] |
6-40 |
||||||
|
最大計(jì)數(shù)率 [ph/s/pixel] |
107 |
||||||
|
尺寸(WHD)[mm3] |
114 x 92 x 242 |
114 x 133 x 242 |
235 x 237 x 372 |
340 x 370 x 500 |
400 x 430 x 500 |
340 x 370 x 500 |
400 x 430 x 500 |
|
重量 [kg] |
3.7 |
4.7 |
15 |
41 |
55 |
41 |
55 |
|
冷卻方式 |
水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) |
水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) |
水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) |
水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) |
水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) |
水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) |
水冷(模塊)/風(fēng)冷(電子學(xué)) |
北京優(yōu)納珂科技有限公司是瑞士DECTRIS(德科特思)指定的在中國(guó)地區(qū)同步輻射和科研實(shí)驗(yàn)室總代理。負(fù)責(zé)DECTRIS(德科特思)產(chǎn)品在中國(guó)軟硬件的售前售后,EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探測(cè)器參數(shù)。公司擁有專業(yè)的銷售、服務(wù)團(tuán)隊(duì),為您提供產(chǎn)品咨詢、設(shè)備安裝、設(shè)備維護(hù)等專業(yè)的一站式服務(wù)。公司秉承提供一流的產(chǎn)品、精湛的技術(shù)與良好的服務(wù)態(tài)度,本著“信譽(yù)第一、客戶至上”的原則,竭誠(chéng)為您服務(wù)。
免責(zé)聲明:以上所展示的[ EIGER2 X/XE-瑞士DECTRIS混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器]信息由會(huì)員[北京優(yōu)納珂科技有限公司]自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。