產品簡介
LCL-4A橢圓偏振測厚儀使用消光法測量薄膜厚度和折射率；手動調節測試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法廣泛地應用于固體基片上介質薄膜的測量。在己有測定薄膜厚度的方法中，它是能測量到薄和精度高的一類。
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產品說明
LCL-4A橢圓偏振測厚儀產品介紹
LCL-4A橢圓偏振測厚儀使用消光法測量薄膜厚度和折射率；手動調節測試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法廣泛地應用于固體基片上介質薄膜的測量。在己有測定薄膜厚度的方法中，它是能測量到薄和精度高的一類。
LCL-4A橢圓偏振測厚儀主要實驗內容
LCL-4A橢圓偏振測厚儀主要配置參數
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