產品簡介
太赫茲法布里珀羅干涉儀(TSFPI )是專門設計用來測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度。TSFPI 可用于測量脈沖或連續的窄帶 THz 輻射源。TSFPI 是由兩個平行的半透明硅反射鏡組成,其中一個安裝在電機驅動的線性致動器上。通過可移動反射鏡的平移(掃描),來測量太赫茲輻射的參數,如圖 1 所示。
產品說明
(TSFPI )太赫茲法布里珀羅干涉儀是專門設計用來測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度。TSFPI 可用于測量
脈沖或連續的窄帶 THz 輻射源。TSFPI 是由兩個平行的半透明硅反射鏡組成,其中一個安裝在電機驅動的線性致動器上。通過可移動反射鏡的平移(掃描),來測量太赫茲輻射的參數,如圖 1 所示。
圖1 TSFPI工作原理圖
太赫茲法布里珀羅干涉儀可測量以下 THz 輻射源:
? 回旋管
? 光泵浦亞毫米波激光器
? 返波振蕩器
? 自由電子激光器
? 差頻太赫茲發生器
? 光混頻太赫茲發生器
? 量子級聯激光器
? p-Ge 激光器
? 太赫茲源
圖 1 TSFPI 工作原理圖
太赫茲法布里珀羅干涉儀 還可以測量寬帶太赫茲源的波長和強度,以及過濾 THz 輻射。

圖2
圖 2 反射鏡間距在 500 μm 間距處 TSFPI 的透射譜(使用 Menlo Systems TERA K8 TDS 光譜儀測量的)
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