VMIPCI5565 反射內存卡電子故障注入與診斷

天津新琇科技發展有限公司

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價格：電議

所在地：天津

型號：VMIPCI5565

更新時間：2024-09-24

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公司地址：勝利路北岸華庭一層246室

18612569081 彭學節(先生)

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產品簡介

美國進口VMIC反射內存卡GE公司測量和控制解決方案產業部在以傳感器為基礎的測量、檢驗、資產狀態監測、控制和輻射測量解決方案的方面是一個的變革者，解決方案在廣泛的行業里

公司簡介

天津新琇科技發展有限公司成立于2013，主要致力于實時仿真領域，目前交付多臺計算機仿真系統，在航天，航空，航海等專業有廣泛的用戶群，其中實時仿真系統，反射內存卡，GE代理反射內存,PCI5565,PCI-5565,PCIE-5565RC,PCIE-5565PIORC,PMC5565PIORC等有著獨特的優勢

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產品說明

反射內存卡電子故障注入與診斷

故障注入是指針對特定的故障模型，有意識的在目標系統中催出故障，加速其錯誤和失效的發生，通過分析系統對所注故障的回應信息，可以驗證其容錯和故障安全等信息。

對于軍用電子平臺來講，必須具有很高的運行穩定性、健壯性和可維修性。因此在軍用電子系統的設計、研發和測試過程中充分考慮各種異常狀態可能帶來的影響，是系統設計的重要內容。故障注入通過模擬電子設備及其接口可能發生的異常( 包括物理連接失敗、性能參數下降、功能失效、時序錯誤等)，可對電子系統進行更的測試和驗證。

NI 為電子故障注入與診斷提供了佳的軟硬件綜合平臺，結合基于PXI 總線的故障注入模塊（FIU）、電壓電流激勵源、各種矩陣開關模塊以及MILSTD-1553/ ARINC-429/ AFDX 等航空總線接口模塊可模擬軍用電子設備與接口所發生的異常，并且可通過NI 的各種信號調理與采集模塊將目標系統的回應信息進行采集分析。NI LabVIEW、NI TestStand 等軟件為故障注入與診斷提供了的ATE 測試程序開發與測試流程管理解決方案。

應用舉例故障注入綜合測試平臺器件級的故障注入：通過開放式的程序設計使設備可以強制”拉出”和”灌入”電流，注入的短時間可程序控制板級/ 單元級電氣層故障注入：通過開放式的程序設計使設備可以產生任意頻率的數字時序，可以配合矩陣開關或多路復用開關進行故障注入板級/ 單元級物理鏈路層故障注入：使用矩陣/ 多路復用通用開關，通過開放式的程序設計使設備可以模擬任意通道短路、斷路、信號電阻搭接等故障同時對于此測試平臺可通過NI TestStand 軟件實現測試管理，且支持ATLAS 和ATML 案例：某研究所基于NI PXI 平臺及相應軟件構建上述故障注入所需的硬件與軟件試驗環境具體看來，基于PXI 的SMU 模塊可實現電流的”拉出”與”灌入”，并通過NI LabVIEW 編寫程序控制時間到ms 量級。基于PXI 的高速數字I/O 模塊可以產生任意頻率的數字時序，配合矩陣開關模塊進行電氣層故障注入。基于PXI 的FIU 模塊可以實現任意通道的短路、斷路等故障模擬。NI TestStand 測試管理軟件支持LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++、.NET等語言編寫的測試用例集成，并支持ATLAS 和ATML 的標準導入，無需編程即可快速而穩定地實現綜測平臺的集成工作。