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價格：電議
所在地：河北 邢臺市
型號：
更新時間：2018-08-07
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公司地址：河北省邢臺市橋東區泉南東大街唐寧10號B座1707
張經理(先生) 銷售經理
1、瀏陽3128高壓緣電阻測試儀 安捷倫高阻計 的具體參數
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3、瀏陽3128高壓緣電阻測試儀 安捷倫高阻計 的具體參數多種型號內容
供應HP4339B毫歐表|高阻計|高阻測試儀Agilent4339B
HP4339B
Agilent4339B|HP4339B|HP-4339B 毫歐表|高阻計|高阻測試儀
品牌: 安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
特點
＊測量范圍寬：1×103 ～1.6×1016Ω
＊測試夾具穩定：比電阻盒，元件測試夾具
＊測量速度高：10ms
＊按測試順序編程
＊計算電阻率
＊被測器件可接地測量
規格
測量參數：R（直流電阻），I（直流電流），ps（表面電阻率），pv（體電阻率）
數學功能：偏差和百分偏差
顯示數字：3，4或5位（可選擇）
測試電壓：0.1 ～ 1000Vdc
0.1 ～ 200Vdc時，以0.1V步進
0.1 ～ 1000Vdc時，以1V步進
電壓精度：≤200V時為0.16％+100mV
＞200V時為0.16％+500mV
電流：≤100V時為10mA；≤250V時為5mA
≤500V時為2mA；≤1000V時為1mA
電流相容性調定：0.5mA,1mA,2mA,5mA,10mA
輸出電阻：1KΩ&plun;10％
輸入電阻：1KΩ&plun;10％
測試電纜長度：2 m （值）
測量范圍和精度：
直流電流：60fA～100uA 基本精度：&plun;0.4％
直流電阻：1×103 ～1.6×1016Ω 基本精度：&plun;0.6％
測量時間：短：10ms；中：30ms；長：390ms
修正功能：
開路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生電阻引起的測量誤差
測試序列程序：控制一系列電阻測量。充電時間、測量間隔時間和測量次數可以編程。
比較功能：對測量參數設立高/符合/低界限
接觸檢查功能：
1、 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障
2、 可提供的被測器件（DUT）類型
其它功能：
1、 存儲/調用：可以由內部非易失存儲對10種儀器設置進進存儲/調用
2、 連續存儲功能：若儀器被切斷或發生電源故障，儀器設置將自動被存儲起來
3、 GPIB接口：所有控制設置，被測值和比較器信息
一般指標
電源要求：90 ～ 132V或198 ～ 2V，47 ～ 66Hz，45VAmax
工作溫度：0℃ ～ 45℃
尺寸：320（寬）×100（高） ×450（長）mm
重量：6.5kg
| 顯示器 | |
| 30000 位數 | |
| 測試電阻 | |
| 測試電流 | DC 1uA ~ 1A |
| 范圍 | |
| 30mΩ, 300mΩ, 3Ω, 30Ω, 300Ω, 3kΩ 30kΩ, 300kΩ, 3MΩ 共9檔 | |
| 度 | |
| 30mΩ: &plun;1% 讀值 + 6 位 300mΩ: &plun;0.05% 讀值 + 6 位 3Ω: &plun;0.05% 讀值 + 3 位 30Ω~3MΩ: &plun;0.05% 讀值 + 2 位 | |
| 解析度 | |
| 1uΩ, 10uΩ, 100uΩ, 1mΩ, 10mΩ, 100mΩ, 1Ω, 10Ω, 100Ω | |
| 溫度 | |
| 范圍 | -50°C ~ 100°C |
| 度 | -10°C ~ 40°C：0.3% 讀值 + 0.5°C Other：0.3% 讀值 + 1.0°C |
| 解析度 | 0.1°C |
| 操作功能 | |
| Hi/Lo, Go/No-Go, Trigger, %, Diode, REL, Temp, TC | |
| 測量速度 | |
| 7 次/秒 在 30,000 位數 30 次/秒 在 3,000 位數 | |
| 記錄長度 | |
| 20 組 | |
| 接口 | |
| 標準: Handler, Scan (相同連接器) 選配: RS-232C+GPIB | |
| 使用電源 | |
| AC 110V, 120V, 220V, 230V&plun;10%, 50/60Hz | |
| 尺寸&重量 | |
| 251(寬)×91(高)×291(深) mm 約 2公斤 | |
長期供應/Agilent4291A/HP4291A阻抗分析儀
Agilent4291A/HP4291A 阻抗分析儀
HP4291A頻率范圍：1M—1000M
主要用途
測試材料的阻抗Z，導納Y，電感L，電阻R,介電損耗D ,品質因數
射頻阻抗計量器具檢定系統
Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments JJG 2011-87
代替：高頻阻抗量值傳遞系統
射頻阻抗計量器具檢定系統
本檢定系統適用于射（高）頻集總參數阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件），規定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數阻抗量的量值溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。
一、計量基準器具
1、高頻集總參數阻抗的計量基準器具是指用于復現和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括電介質材料的復數介電常數和軟磁材料的復數導磁率）的計量設備和量具。
2、射（高）頻集總參數阻抗計量基準器具包括：
2.1空氣介質同軸線阻抗基準，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經理論計算求得。它用以校準按反射系數測量原理設計的高頻阻抗測量裝置。空氣介質同軸線也是微波阻抗基準，本檢定系統移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統一。在（1-1000）MHz頻段，其技術指標為：
反射系數模值｜г｜：1.000&plun;0.002； 相角：&plun;180°&plun;0.5°。
2.2高頻阻高頻阻抗測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀，經過準確度論證分析，保證高頻集總參數阻抗量的以下計量工作性能：
頻率：（1-1000）MHz
反射系數模值｜г｜：1.000&plun;(0.003-0.007)
相角θ：&plun;180°&plun;0.5°；
阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ&plun;（0.5-10）%
電容C：10pF-100nF&plun;(0.2-10)%;
電感L：10nH-100μH&plun;（0.2-10）%
損耗：tgδ（D）0.001-0.5&plun;<(0.002-0.05)
二、高頻集總參數阻抗標準
3、集總參數阻抗標準包括：
3.1高頻阻抗標準件50Ω，0Ω，0S。它們由基準通過直接比對法傳遞量值，技術特性如下：
50Ω：｜г｜≤0.0025； 0Ω：殘余阻抗小于2mΩ； 0S：邊緣電容值0.080pF。
這些標準件用以校準按電壓電流比原理設計的高頻阻抗分析儀、高頻LCR表等通用高頻阻抗測量儀器（校準中還需使用直流以和低頻阻抗標準伯）。并由50Ω阻抗件組成模擬損耗件校準Q值、tgδ值等標準設備。
3.2高頻、低頻阻抗分析儀。這些是市售商品高準確度阻抗測量儀器，也用作計量標準設備，用以定標低準確度的阻抗標準量具。其技術指標為：
頻率：20kHz-1000MHz；
阻抗｜Z｜：1Ω-10kΩ&plun;（1-20%）；
電容C：10pF-100nF&plun;(0.5-20)%；
電感L：10nH-1.00μH&plun;（0.5-20）%
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