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價格：電議
所在地：山東 濟南市
型號：Winner99E
更新時間：2020-05-08
瀏覽次數(shù)：2162
公司地址：山東省濟南市高新區(qū)大學科技園北區(qū)F座東二單元
張經(jīng)理(女士) 市場部
"中國顆粒測試技術的領航者"、“中國顆粒測試第一股”------濟南微納顆粒儀器股份有限公司是集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售顆粒測試相關儀器設備于一體的高新技術企業(yè)（證券名稱：“微納顆粒”，證券代碼：“430410”）。公司創(chuàng)始人自1985年承擔國家七五科技攻關項目開始，專業(yè)研究激光粒度測試技術及顆粒圖像技術至今已有近30年的歷史，技術深厚，產(chǎn)品質(zhì)量過硬。
濟南微納一直以“發(fā)展與普及當代最先進的顆粒測試技術”為己任，研制的濕法、干法、醫(yī)用噴霧、工業(yè)噴霧等系列的激光粒度測試設備，均代表了國內(nèi)同行業(yè)的最高水平，并于2006年推出代表世界先進水平的在線激光粒度測試儀，2007年推出國內(nèi)第一臺動態(tài)顆粒圖像分析儀，2009年推出國內(nèi)第一臺動態(tài)光散射原理的光相關納米粒度儀，將中國顆粒測試技術推向了一個全新的高度。目前，以激光粒度儀為代表的“微納品牌”顆粒測試系列儀器已有七大類三十多款產(chǎn)品，滿足了不同層次用戶的新產(chǎn)品開發(fā)及產(chǎn)品質(zhì)量控制的需求。
濟南微納公司以高校為依托，培養(yǎng)了一流的技術開發(fā)團隊，90%以上的員工具有大學本科以上學歷，其中光學、電子、計算機、化工、材料各方面的專家、教授、博士、碩士研究生多名；公司的董事長兼首席專家-----任中京教授是濟南大學研究生導師，從事激光顆粒分析理論與技術研究工作30多年，理論基礎深厚、扎實。是我國激光粒度分析技術的開創(chuàng)者，在顆粒測試領域享有極高聲譽，并連任中國顆粒學會五屆常務理事，山東顆粒學會理事長等職位，被評為國家有突出貢獻的科學家稱號；微納公司還與國內(nèi)許多大學、研究機構建立了良好的合作關系，廣泛進行新技術的交流合作及科研項目的研發(fā)，積累了雄厚的技術實力。
微納產(chǎn)品不但暢銷國內(nèi)，還大量銷往海外，以其過硬的產(chǎn)品質(zhì)量和雄厚的技術實力與優(yōu)質(zhì)的客戶服務獲得了社會及廣大用戶的好評。濟南微納獲得中國業(yè)內(nèi)最具創(chuàng)新實力的企業(yè)、中國顆粒測試技術的領航者等榮譽稱號，被國際權威組織排入亞洲粉體企業(yè)50強。
公司網(wǎng)站：www.jnwinner.com。
全國免費服務咨詢熱線：4000-1919-82。
廠家Winner99E顆粒圖像分析儀價格
Winner99E是新一代靜態(tài)顆粒圖像分析設備，它采用新的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計算機圖像學與顆粒粒度及粒形分析理論結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細的了解顆粒。此外，該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定，是顆粒粒度測試及粒形分析的搭檔和得力助手。
性能特點
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕，用戶可以直觀且了解顆粒的表面及形狀屬性；
拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅，使參與分析的顆粒數(shù)量更多，測試結(jié)果更具代表性；
自動分割粘連顆粒 采用更的顆粒識別算法，對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割，顯著提高粘連顆粒分割準確率，減少人為參與，有效縮短圖像處理時間；
自適應二值化功能 采用一種自適應二值化功能，使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響，避免了因光線不均勻等因素而導致顆粒信息丟失的情況，為后續(xù)處理的度奠定基礎；
自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集，集成了二值化、消除邊界不完整顆粒、消除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作，一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程，操作簡便且結(jié)果可靠；
廠家Winner99E顆粒圖像分析儀價格
技術參數(shù)
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型號 |
Winner99E |
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執(zhí)行標準 |
ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008 |
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顯微 系統(tǒng) |
物鏡 |
4X、10、40、60、100（油）長距消色差（平場）物鏡組 |
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目鏡 |
1X、10、16X 大視野攝像目鏡 |
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載物臺 |
手動三維機械式載物臺，尺寸：185mm×140mm， 移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調(diào)焦， 微動格值：2μm,帶鎖緊和限位裝置 |
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光源 |
底部透射光源，鹵素燈和LED光可選,亮度可調(diào)。頂部金相落射式光源（帶起偏振器） |
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總放大倍數(shù) |
4倍——1600倍 |
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攝像 系統(tǒng) |
zui高分辨率 |
2048×1536 |
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像素尺寸 |
3.2μm×3.2μm |
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成像元件 |
1/2英寸CMOS |
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幀率 |
6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 |
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zui高清晰度 |
> 1000 line |
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信噪比 |
小于42dB |
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敏感度 |
1.0V@550nm/lux/S |
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輸出方式 |
USB2.0 |
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實際觀測范圍 |
1-6000μm |
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軟件功能 |
圖像采集 |
采集樣品形貌圖像，保存JPG格式 |
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圖像拼接 |
將多幅圖片進行無縫拼接,測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張?zhí)幚肀４婧笤龠M行拼接，進一步提高了結(jié)果的準確性。 |
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圖像處理 |
提供灰度化，二值化（動態(tài)、自動、自適應方法），圖像消藍、平滑濾波、光照不均勻校正、邊界檢測、均衡化、圖像平滑、圖像收縮、圖像膨脹、消除飛點、消除空心、消除邊界黑點、消除粘連、手動標注、任意角度旋轉(zhuǎn)等算法操作 |
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顆粒的自動處理工具集 |
自動自適應二值化、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣、自動消除顆粒粘連、自動獲取粒徑粒形參數(shù)等12項自動處理工具。 |
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球狀顆粒處理 |
針對球狀顆粒復雜粘連顆粒采用特有算法，可以直接求出樣品的粒徑參數(shù)和分布。 |
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比例尺標定 |
通過標準測微尺標定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。 |
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單個顆粒數(shù)據(jù) |
可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、、粒徑、長徑比、球形度等10多項參數(shù)的分析顯示。 |
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任務管理機制 |
嚴格的任務管理機制，使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。 |
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報告輸出 |
將測試結(jié)果輸出為報告，并可以自由修改報告樣式。 |
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報告 參數(shù) |
特征參數(shù) |
D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù) |
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頻率分布與累計分布 |
顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。 |
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統(tǒng)計平均徑 |
Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑 |
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形狀參數(shù) |
長徑比、龐大率、球形度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù) |
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個數(shù)統(tǒng)計 |
直接得到所觀測的顆粒數(shù)量 |
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樣品縮略圖 |
可以將樣品彩色或黑白（可選擇）縮略圖顯示到報告中 |
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表頭輸入 |
可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中 |
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