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價格：電議
所在地：北京
型號：RHA-ZDNP-6
更新時間：2017-12-12
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公司地址：北京市門頭溝石龍經濟開發區永安路20號石龍高科大廈
李冉(女士) 業務員
電子式紙板耐破度測定儀 紙板耐破度測定儀 紙板耐破度檢測儀 型號：RHA-ZDNP-6
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本紙板耐破度儀是我廠研制生產的新一代紙張試驗儀器。它采用了以單片機為核心的測控手段，從而實現了檢測、控制及數據處理的全部數字化、微機化。各項技術參數與性能指標均符合ISO2759《紙板耐破度的測定》，QB/T1057《紙與紙板耐破度儀》和GB1539《紙板耐破度測定法》等標準的規定與要求。 本儀器操作簡單，性能可靠、技術，是科研單位、造紙廠家、包裝行業、質檢部門不可缺少的理想設備。 |
| 主要技術參數： |
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1、測量范圍：0-6000kPa |
導電型號測試儀/PN測試儀/硅料PN鑒別儀 型號：RHA-KDK-STY-3
| 產品簡介 |
| RHA-KDK-STY-3型導電型號測試儀是嚴格按照國標GB/T1550-1997和ASTM F42（非本征半導體村料導電類型的標準測試方法）中的熱探針及整流導電類型測試方法設計的導電類型鑒別儀。
本儀器熱探筆內裝有加熱和控溫組件，自動加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內，冷熱探筆在半導體材料上產生的熱電動勢及整流法產生的電勢差經低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后，用液晶顯示器件（LCD）及檢流計指示型號方向。儀器靈敏度分高、低兩檔，可判別大部分非本征半導體材料型號（從高阻單晶到重摻單晶）。
二、技術性能
1、可判別鍺、硅著料的電阻率范圍：
鍺：非本征鍺103～10?4Ω·cm
硅：10+4～10-4Ω·cm
經外實驗證明：在室溫情況下，熱電法對于電阻率低于1000Ω·cm的硅單晶整流法結果可靠。
2、鍺、硅單晶直徑及長度：不受限制
3、顯示方式：由顯示N和P的液晶器件直接指示，同時中心刻度為零位檢流計也在指示型號，指針向左偏轉被測樣品為N型，指針向右偏轉被測樣品為P型。
5、探針：先用ASTM F42標準中建議的不銹鋼作冷熱探針材料，針尖為60℃錐體，熱筆溫度自動保持在50?60℃范圍內，冷筆與室溫相同。整流法行選用硬質合金作探針。
6、電源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供電，zui大功耗（熱筆加熱狀態）小于40W，平均功耗≈10W。
7、外型尺寸：370×320×110（mm）
8、重量：約 4 kg
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半導體導電型號鑒別儀/導電型號鑒別儀/PN測試儀/PN鑒別儀 型號：RHA-CG-3
RHA-CG-3半導體導電型號鑒別儀是快速鑒別硅晶材料的導電類型“P”和“N”的測量儀器，測量范圍寬，硅材料電阻率從0.1~104Ω*cm。儀器采用進口16位單片IC電路為核心，利用數字采集濾波技術，并用“P”和“N”數碼直接顯示，因而使測量的準確度和穩定性大幅度提高。儀器采用手持式三探針探頭，使用簡單，操作方便。在太陽能硅材料分選時，采用整流法對﹤0.1Ω*cm的材料具有聲光報警功能，快速。
2. 可測量材料： 半導體硅棒和硅片、硅碎顆粒
3. 顯示方式： P、N直顯
4. 重參報警功能; 聲光
5. 設定; 0.1檔、0.5檔報警
6. 測試探頭： 手持式三探針（高速鋼），
針尖距2.5mm探針直徑1mm.
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