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價格:電議
所在地:北京
型號:DL10-TK3580
手機:13811130898
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更新時間:2018-08-14
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公司地址:北京市德外西三旗泰華龍旗廣場2號樓
型號:DL10-TK3580
介質(zhì)損耗測試儀是一種的測量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種緣材料、緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質(zhì)損耗,(tgδ)和電容容量(Cx)它淘汰了 QS 高壓電橋,具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強、測試時間(在同類產(chǎn)品中速度快)等特點。體積小、重量輕是我公司的第二代抗干擾介質(zhì)損耗測試儀。
介質(zhì)損耗測試儀主要技術指標
1、環(huán)境溫度:0 ~ 40℃(液晶屏應避免長時日照)
2、相對濕度:30% ~ 70%
3、供電電源:電壓:220V±10%、頻率:50±1Hz
4、外形尺寸:長×寬×高 500mm×300mm×400mm
5、重量: 約18Kg
6、輸出功率:0.6KVA
7、顯示分辯率:3位、4位(內(nèi)部全是6位)
8、測量范圍及輸出電壓選擇:
介質(zhì)損耗(tgδ):±0.00~±999%
試品電容容量(Cx)和加載電壓:
2.5KV檔:≤300nF(300000pF) 3KV檔:≤200nF(200000pF)
5KV檔:≤76nF(76000pF) 7.5KV檔:≤34nF(34000pF)
10KV檔:≤20nF(20000pF)
9、基本測量誤差:
介質(zhì)損耗(tgδ):1%±7個字(加載電流20uA~500mA)
介質(zhì)損耗(tgδ):2%±9個字(加載電流5uA~20uA)
電容容量(Cx):1.5%±1.5pF
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