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價格：電議
所在地：北京
型號：ZJD-B/ZJD-C
更新時間：2015-01-15
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ZJD-B數字式介電常數及介質損耗測試儀
儀器介紹
ZJD-B全數字顯示介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下緣材料的測試。
ZJD-B數字式介電常數及介質損耗測試儀讀書清晰,無須換算,操作簡便,特別適合電子元器件的質量分析,品質控制,科研生產,也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學等專業作科研實驗儀器.
技術參數
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信號源頻率范圍 |
DDS數字合成 10KHz-60MHz |
Q測量范圍 |
1-1000自動/手動量程 |
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信號源頻率覆蓋比 |
6000:1 |
Q分辨率 |
4位有效數,分辨率0.1 |
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信號源頻率精度 |
3X10 -5 ±1個字,6位有效數 |
Q測量工作誤差 |
<5% |
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電感測量范圍 |
15nH-8.4H,4位有效數,分辨率0.1nH |
調諧電容 |
主電容30-500PF |
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電感測量誤差 |
<5% |
調諧電容誤差和分辨率 |
±1.5P或<1% |
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標準測量頻點 |
全波段任意頻率下均可測試 |
Q合格預置范圍 |
5-1000聲光提示 |
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諧振點搜索 |
自動掃描 |
Q量程切換 |
自動/手動 |
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諧振指針 |
LCD顯示 |
LCD顯示參數 |
F,L,C,Q,波段等 |
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀
儀器介紹
ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下緣材料的測試。
技術參數
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ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前zui高的160MHz。 ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術： 1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。 3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。 4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩定。 7 計算機自動修正技術和測試回路優化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，徹底根除 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。 ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。 |
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主要技術特性 |
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Q 值測量范圍 |
2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔 |
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固有誤差 |
≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
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工作誤差 |
≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
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電感測量范圍 |
4.5nH ～ 140mH |
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電容直接測量范圍 |
1 ～ 200pF |
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主電容調節范圍 |
18 ～ 220pF |
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主電容調節準確度 |
120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％ |
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信號源頻率覆蓋范圍 |
100kHz ～ 160MHz |
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頻率分段 （ 虛擬 ） |
100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz |
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頻率指示誤差 |
3 × 10 -5 ± 1 個字 |
免責聲明：以上所展示的[ZJD-B/ZJD-C 介質損耗正切值/損耗因數測試儀]信息由會員[北京中航時代儀器設備有限責任公司]自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
