| 提交詢價(jià)信息 |
| 發(fā)布緊急求購(gòu) |
價(jià)格:電議
所在地:北京
型號(hào):DP-2263
手機(jī):18210605334
電話:86-010-51298264/51294858/微信:13021964782
更新時(shí)間:2024-09-18
瀏覽次數(shù):1464
公司地址:北京市門頭溝區(qū)雙峪環(huán)島東南角熙旺中心(東方巴黎時(shí)代廣場(chǎng))B座2137室
北京亞歐德鵬科技有限公司是一家集研、生產(chǎn)、銷、服務(wù)于一體的企業(yè)。在國(guó)內(nèi)設(shè)有多個(gè)辦事處。
北京亞歐德鵬科技有限公司是產(chǎn)品系統(tǒng)集成商。引進(jìn)在線、離線儀器儀表、機(jī)械設(shè)備與材料,為用戶提供了產(chǎn)品和服務(wù),在冶金煤礦、石油、化工、環(huán)保、電子、機(jī)械、光學(xué)、通訊、科研及院校等領(lǐng)域,與多廠家有合作關(guān)系。目前我公司與許多儀器儀表廠商定有代理協(xié)議。
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀概述
DP-2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提度,別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成。
主機(jī)主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開(kāi)關(guān)輸入;具有零位、滿度自校功能;測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式;儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作成,也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上操作成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示,也可連機(jī)由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印!
探頭選配:根據(jù)不同材料性需要,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。
測(cè)試臺(tái)選配:般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測(cè)試臺(tái)。
儀器具有測(cè)量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試,別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
3.1 測(cè)量范圍
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
電 阻:1×10-5~2×105 Ω ,分辨率:1×10-6~1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)決定和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直 徑:DP-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
DP-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長(zhǎng)()度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭(選配其或加配全部)
(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)
3.6 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.7 外形尺寸:
主機(jī) 220mm(長(zhǎng))×245 mm(寬)×100mm()
免責(zé)聲明:以上所展示的[DP-2263 雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀/電阻率測(cè)試儀/方阻儀 ]信息由會(huì)員[北京亞歐德鵬科技發(fā)展有限公司]自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。