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美國CID CI-710植物葉片光譜儀
CI-700系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜；通過光譜可以定性、定量的研究葉片內各組分葉綠素a或b、蛋白質、糖、礦物質等含量及比例變化；直觀的光譜圖像和現場數據存儲,為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段。
儀器特性
◆非常便攜，適合于室內或野外使用
◆非破壞性精密地測量葉片在400~1000nm波長范圍內的反射率、透射率和吸收率
◆掃描速度快，靈敏度高
◆USB接口連接UMPC數據處理終端
◆樣品類型，葉片或扁平的物體
技術參數
◆測量方式：非破壞性測量葉片
◆測量光譜：葉片透射、吸收和反射光譜
◆樣品類型：葉片或扁平的物體
◆檢測器：CCD線性陣列探測器
◆掃描波長范圍：400～1000 nm
◆采樣速度：3.8ms-10s
◆光偏離：＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
◆分辨率：0.3～10.0nmFWHM
◆采樣直徑：7.6 mm
◆線性修正：>99.8%
◆*配有CI-700LP葉夾
◆尺寸：89.1 x 63.3 x 34.4 cm
◆*重量：290G
儀器配置
光譜探測器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數據終端、光譜分析軟件、說明書、便攜式儀器箱
北京東方安諾生化科技有限公司
地址：北京大郊亭中街華騰國際3座11A
網址： www.annovatech.com、http://www.chem17.com/st191187
、1418773067
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