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價(jià)格：電議
所在地：全國(guó)
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更新時(shí)間：2012-01-06
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比表面及孔隙率測(cè)定儀
靜態(tài)容量法比表面及孔隙率測(cè)定儀JW-BK技術(shù)參數(shù)如下：
主要功能：比表面及孔隙率測(cè)定儀可實(shí)行BET比表面(多點(diǎn)及單點(diǎn))測(cè)試，Langmuir比表面測(cè)試，炭黑外
比表面測(cè)定，吸附、脫附等溫曲線測(cè)定， BJH孔徑分布、總孔體積和平均孔徑測(cè)定；
真空系統(tǒng)：極限真空度6×10-2Pa
測(cè)量范圍：比表面 ≥0.01M2/g 至無(wú)規(guī)定上限，孔尺寸 0.7~ 400nm ;
樣品數(shù)量：比表面及孔隙率測(cè)定儀可同時(shí)測(cè)定1-4個(gè)樣品；
測(cè)量精度：≤± 2% ；
壓力控制：比表面及孔隙率測(cè)定儀高精度壓力傳感器，數(shù)字顯示，精度 0.2%，獨(dú)特的充氣與抽氣速度自
動(dòng)控制系統(tǒng)
運(yùn)行方式：高度自動(dòng)化，智能化，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可以無(wú)人看管自行測(cè)試
測(cè)試時(shí)間：比表面及孔隙率測(cè)定儀多點(diǎn)BET法比表面平均每個(gè)樣品15分鐘，孔徑分布測(cè)試、孔隙度測(cè)試平
均每個(gè)樣品100分鐘
測(cè)試氣體：高純氮?dú)?不用氦氣)，氮?dú)庀牧繕O小
吸附過(guò)程：JW-BK比表面及孔隙率測(cè)定儀樣品不需要頻繁從液氮杜瓦瓶中進(jìn)出，液氮消耗極少
軟件系統(tǒng)：比表面及孔隙率測(cè)定儀在Windows平臺(tái)上，提供過(guò)程控制和數(shù)據(jù)采集、處理、報(bào)告系統(tǒng)，多種
測(cè)試方法可自由方便選擇，在計(jì)算機(jī)屏幕上，同步顯示吸、脫附，測(cè)試過(guò)程、可隨時(shí)查看已完成部分的測(cè)
試數(shù)據(jù)；本機(jī)軟件功能強(qiáng)大、界面友好、兼容性高、使用方便；
免責(zé)聲明：以上所展示的[ JW-BK 比表面及孔隙率測(cè)定儀]信息由會(huì)員[]自行提供，內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。
