LP-GDGW54 導波雷達物位計（圓殼）/雷達物位計（圓殼）

北京恒奧德儀器儀表有限公司

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型號：LP-GDGW54

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更新時間：2023-12-22

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產品簡介

導波雷達物位計（圓殼）/雷達物位計（圓殼）型號:LP-GDGW54導波雷達物位計（圓殼）/雷達物位計（圓殼）測量原理原理:導波雷達發

公司簡介

公司主營不銹鋼采水器，罐底焊縫真空檢測盒，八級空氣微生物采樣器，涂層測厚儀，土壤粉碎機，腐蝕率儀，凝固點測試儀，水質檢測儀，涂層測厚儀，涂層測厚儀，土壤粉碎機，數顯式溫度計，氣體采樣泵，水質檢測儀，PM2.5測試儀，牛奶體細胞檢測儀，氦氣濃度檢測儀，土壤水分電導率測試儀，場強儀，毛細吸水時間測定儀，氧化還原電位計測振儀，一氧化碳二氧化碳檢測儀，黏泥含量測試儀，自動電位滴定儀，便攜式測溫儀，干簧管測試儀，電導率儀，水質分析儀，土壤氧化還原電位計，數字測溫儀，便攜式總磷測試儀，腐蝕率儀，余氯檢測儀，顆粒強度測試儀，高斯計，自動涂膜機，雨量計，四合一氣體分析儀，溶解氧儀，薄層鋪板器，溫度記錄儀，動覺方位儀，菌落計數器，雨量計，毛細吸水時間測定儀，污泥比組測試儀，大氣采樣器，流速儀，體積電阻率測試儀，照度計，涂布機，老化儀。

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產品說明

導波雷達物位計（圓殼）/雷達物位計（圓殼）型號:LP-GDGW54

導波雷達物位計（圓殼）/雷達物位計（圓殼）測量原理
原理:導波雷達發出的頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由于介電常數突變，引起反射，分脈沖能量被反射回來。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比.容器中存在兩種不同介質，當上面層的介質介電常數較小，而下面的介質介電常數較大時，頻微脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質時，由于其介電常數較小，因而有少的能量被這層介面反射，而大分能量穿透上層介質繼續向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質的介電常數較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達是可以測量兩種不同介質的介面，其測量條件是上層介質不導電或其介電常數比下層介質介電常數小10以上。
特點:由于采用了的微處理器和特的EchoDiscovery回波處理術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜況.多種過程連接方式及探測組件的型式，使得GDGW5X系列導波雷達物位計適于各種復雜況及應用場合。如：溫、壓及小介電常數介質等。采用脈沖作方式，導波雷達物位計發射率低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環境均無傷害。
安裝要求：在整個量程內確保纜或棒不要接觸到內障礙物，因此安裝時應盡可能避開罐內設施，如：人梯、限位開關、加熱設備、支架等。另外須注意纜或棒不得與加料料流相交。安裝儀表時還要注意：zui料位不得入測量盲區；儀表距罐壁須保持定的距離；儀表的安裝盡可能使纜或棒方向與被測介質表面垂直。安裝在防區域內的儀表須遵守防危險區的安裝規定。本安型的外殼采用鋁殼。本安型儀表可安裝在有防要求的場合，儀表須接大地。

測量盲區: 從測量的基準面向下的段區域內和纜或棒zui低位無法測量的段區域內是導波雷達物位計的測量盲區。
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