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LA-S型植物根系分析儀系統 植物根系分析儀 植物分析儀
LA-S型植物根系分析儀系統
LA-S型植物根系分析儀系統 至少具備以下功能：
1、植物根系可自動分析測量：
1)根總長；
2)根平均直徑；
3)根總面積；
4)根總體積；
5)根尖計數；
6)分叉計數；
7)交疊計數；
8)根直徑等級分布參數；
9)可不等間距地自定義分段直徑，自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積 等，及其分布參數；
10)根尖段長度分布(即：根尖到其第1個分叉的長度)；
11)能進行根系的顏色分析，確定出根系存活數量，輸出不同顏色根系的直徑、長度、投影面積、表面積、體積；
12)能進行根系的拓撲分析，自動確定根的連接數、關系角等，可單獨自動分析主根或任意一支側根的長度和分叉數等；
13)可單獨顯示標記根系的任意直徑段相應各參數(分檔數、檔直徑范圍任意可改)；
14)能進行根的分叉裁剪修正，修正操作能回退，以快速獲得100%正確的結果。精度：根長≤±1%；面積：優質圖像質量時<1%，標準圖像質量時≤3%；
15)匹配專門的雙光源照明系統，提供高分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現象的影響，有效保證圖像質量；
16)采用非統計學方法測量計算出交叉重疊部分根系長度等，可保存或讀取TIFF、BMP、PNG、JPEG標準格式的圖像。
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2、人工輔助修正：圖像可放大縮小和局部觀察，可實現鼠標區域選擇統計、對污染區的輔助裁剪或橡皮擦修正。
3、統計效果監視：監視和修正植物對象分析的精度。
4、自動雜質剔除：根據尺寸等方面的區別，進行自動雜質剔除。
5、輔助測量功能：
尺寸標定：自帶標定功能，實現半自動的尺寸標定，XY向可分別標定修正；
長度測量：具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標拖動精確測量；
6、分析結果能導出到Excel表，以便存檔和統計。還可輸出分析標記圖，以便發表論文用。
LA-S型植物根系分析儀系統 標配光學分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描儀，zui大分析測量面積：反射稿為A4加長幅面(35.6 cm×21.6 cm)，掃描根面積30 cm×20 cm，可分辨的zui小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物圖像分析測量精度(由掃描儀決定，可軟件部分校正)：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；長度測量重現性誤差<±0.25%；面積測量重現性誤差<±0.25%；臺間測量差異<±0.25%。測量總時間：30~60秒。用戶需另配計算機。
若需大幅面分析，請選配：光學分辨率1600×3200dpi、A3的Microtek Phantom 9800XL掃描儀。
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