| 提交詢價信息 |
| 發布緊急求購 |
價格：電議
所在地：四川 成都市
型號：JL-2000
更新時間：2015-03-02
瀏覽次數：2222
公司地址：成都市金牛區白馬寺街19號
陳生(先生) 經理
隨著中國改革開放，四川省輕工業研究設計院體制改革，成都精新粉體測試設備有限公司應運而生，成為中國最早研發，生產粉體測試儀器的專業廠家。有近20年的開發研究、生產歷史，在粉體測試行業享有很高的盛譽。
20多年來，成都精新公司在周定益教授的帶領下，聚集了一支技術過硬專業基礎扎實的研發團隊。創新思維活躍，根據市場需求自主開發軟件、開發新產品。生產的粒度儀設計的機械部件充分考慮規避運輸中使用中可能出現的問題，獨特的自動清洗樣品池、超聲波分散、攪拌循環設置于儀器內部，名副其實的機電一體化。探測光路自動對中校零，從而避免了測試過程中諸多不利因素，操作簡單智能化程度高，測試數據重復性、穩定性好，每測一個樣品在電腦控制下自動分析處理完成。產品性能優良、質量穩定，為科研院校、生產企業提供了產品質量保障的依據。
生產的激光粒度儀，參照ISO13320等國際標準、全量程米氏散射理論原理及粉體粒度專有技術專利。JL-1155型激光粒度測試儀, 早在1990年經中國測試研究院檢定合格，當年獲國家專利，1993年中國首屆顆粒儀器展會上，現場測試考核評定合格。諸多的榮譽證書及市場占有率，也給后來成都精新公司20多種系列粉體測試儀器，拓展鋪就了成功之路。在國內外粉體測試儀器生產同行中，品種眾多無與倫比，在粉體粒度檢測領域取得了輝煌的業績。
系列粉體測試儀器，已在化工、電子、造紙、冶金、陶瓷、磨料、醫藥、涂料、水泥、食品、農藥等行業及碳酸鈣、滑石粉、高嶺土、氧化鋁、稀土、催化劑、發泡劑、云母粉、填料、石墨、顏料等領域，和眾多科研院校廣泛使用，測試結果與國外幾十萬的儀器對比并無遜色，在國內外市場享有盛譽。在追求不斷創新的同時，更加注重“質量至上，誠信服務”，因此在激烈的市場競爭中占得先機，不斷壯大自身實力。以其過硬的質量和良好的技術支持與服務獲得廣大用戶的好評。
主要產品：納米激光粒度儀、干濕法二用激光粒度儀、干法激光粒度儀、濕法激光粒度分析儀、噴霧激光粒度儀、比表面積測試儀、顆粒圖像分析儀、振實密度儀、粉體特性測試儀、真密度測試儀、在線控制粒度儀。
| 是否提供加工定制 | 否 | 品牌 | 成都精新 |
| 型號 | JL-2000 | 測量范圍 | 0.5μm～2000μm |
| 測量精度 | 1 | 分辨率 | 1 |
| 電源電壓 | 220V | 用途 | 應用范圍：配置透反射顯微鏡，適用于冶金、電子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、醫藥、金屬、非金屬礦等各種粉體顆粒的形貌觀察和粒度分析；還可用于陶瓷.金屬合金等各種不透 |
JX-2000型顯微圖像分析儀
JX-2000A型：
應用范圍：配置透射顯微鏡，適用于電子、磨料、陶瓷、藥品、涂料、水泥、化工、食品、農藥、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、硬質合金、催化劑、云母粉、填料、石墨、顏料等各種粉末物料，玻璃纖維，礦巖成分判斷（偏光）。
JX-2000B型：
應用范圍：配置透反射顯微鏡，適用于冶金、電子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、醫藥、金屬、非金屬礦等各種粉體顆粒的形貌觀察和粒度分析；還可用于陶瓷.金屬合金等各種不透光的物體表面結構的觀察測試。
主要性能：光學顯微鏡放大成像，專業級攝像頭，高速高分辨率圖像采集卡，圖像動態快速顯示于電腦，直接觀察粉體顆粒的形貌，專用軟件進行粒度分析。全平場消色差物鏡，zui大分辨率0.07微米，zui大光學放大倍數1600倍，圖像顯示和打印zui大倍數4000倍(A4幅面)。
測量范圍：0.5μm～2000μm
分析軟件：提供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積等分布數據。同時提供D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等數據，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。
測量結果：顆粒形貌可存盤打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業特殊要求，設計磨料、硅灰石等專用軟件。
測量方法：透射：將樣品置于載玻片上，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數據。
反射：將樣品置于物鏡下方，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數據。
圖像采集：可調整圖像高度、寬度、分辨率等。
圖像分析處理：
1.色調處理：負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整；
2.圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針)、90度(順時針) 、旋轉、放大、縮小、任意比例縮放等；
3.測量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選；
4.圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；
5.圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設置標尺、網格等功能；
6.分析參數：
（1）幾何參數：每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置，像素；
（2）當量幾何參數：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；
（3）外接幾何參數：每個顆粒的外接圓直徑；
（4）光密度參數：圖像 R、G、B、灰度分布；
（5）形態學參數：長徑比，圓度系數；
注：JX-2000B型透射功能和JX-2000A型相同
結果打印:多種數據格式
免責聲明：以上所展示的[JL-2000 JX-2000顯微顆粒圖像分析儀]信息由會員[成都精新粉體測試設備有限公司]自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
