JK-600S高溫電學探針熱臺
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JK-600S高溫電學探針熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用電阻加熱的方式，實現RT~600℃范圍內控制，與其他電學儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。產品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。
1、 可以搭配阻抗分析儀，高阻計，電化學工作站，數字源表進行功能材料電學的相關測試
2、 軟件開發可以進行高溫介電溫譜測試、電阻，電阻率測試，熱電，熱釋電，TSDC等測量功能。
產品特點：
溫度范圍：RT~600℃
溫度穩定性：±0.1℃
升降溫速度：0~30℃/min
氣密腔室設計，可升級真空
詳細參數一覽表：
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探針熱臺 |
JK-600S |
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溫控模塊 |
冷熱方式 |
電阻加熱 |
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溫控范圍 |
RT～600℃ * |
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溫度穩定性 |
±0.1℃ * |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
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升降溫速率 |
0~30℃/min（可定點 / 程序段控溫），大150℃/min |
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溫控方式 |
PID |
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溫度傳感器 |
PT100 |
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光學特性 |
光路 |
透射光路 *可選反射光路 |
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視窗材質 |
石英玻璃（可手動拆卸換） * |
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視窗尺寸 |
Φ25mm * |
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物鏡工作距離 |
7mm * |
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透光孔 |
默認透光孔 *可選無透光孔 |
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電學特性 |
探針 |
2個磁吸式探針/4個磁吸式探針 手動定位 * |
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探針接口 |
BNC接口 *可選SMA接口 |
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樣品臺面電位 |
默認電懸空 *可選電接地 |
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結構特性 |
樣品臺尺寸 |
20×20mm * |
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樣品臺材質 |
不銹鋼 * |
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外形尺寸 |
116×110×25mm * |
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樣品腔高度 |
6mm * |
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腔室 |
氣密 *可升級真空 |
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外殼冷卻 |
循環水 |
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基本配置 |
探針熱臺x1、溫度控制器x1、循環水系統x1、溫控軟件x1 |
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選配 |
電腦主機/安裝支架/真空系統/定制溫控軟件 |
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備注 |
以上均為默認參數 * 為可定制項
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可進行多種電學功能測試
1、 高溫介電溫譜測試
2、 絕緣電阻測試
3、 四探針電阻率測試
4、 熱電測試儀，TSDC熱刺激電流測試，熱釋電測試
、介電溫譜測試圖
第二、高溫介電測試
模式選擇:根據等效電路可選擇并聯模式和串聯模式;測量方式:軟件可進行介電溫譜與介電頻譜;
測量參數: s介電常數、 (E'、t"介電常數實部與虛部)、C電容、(C'、C"電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R""電阻實部與虛部).Z、(Z'、Z"阻抗實部與虛部)、Y導納、Y.Y”(導納實部與虛溫度設置:可設置升溫速度、降溫速度、大溫度、測量等待時間等;
測量頻率:軟件可設置測試的頻率;
數據處理:測量數據生成Excel及pdf兩種文件格式;圖像處理:測量曲線可保存。
高溫介電測試
第三、測量曲線（電阻、熱釋電、TSDC測量)
電阻測量模式:
1、電阻測量模式:
2、連續測量模式:升降溫連續采集。2、保持測量:指達到溫度后進行測量采集TSDC測量:
3、通過液氮進行低溫試驗。
熱釋電參數測試
TSDC熱刺激電流測試
電阻測試
