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產品詳情
- 產品/服務：EDX4500鋁基粉末檢測儀
- 品 牌：江蘇天瑞儀器股份有限公司/skyray/天瑞
- 單 價：面議
- 更新日期：2025-12-24
- 有效期至：長期有效
- 瀏覽次數：1014
- 立即詢價
產品簡介
EDX4500鋁基粉末檢測儀應用域鋼鐵檢測、粉末檢測、元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）...
產品詳細介紹
EDX4500鋁基粉末檢測儀，江蘇天瑞儀器股份有限公司
型號：EDX4500
EDX4500鋁基粉末檢測儀，江蘇天瑞儀器股份有限公司
性能參數
產品型號：EDX 4500
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
性能特點
超薄窗X光管，標達到水平
新的數字多道術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，度更。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器作的致性
信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手操作帶來的繁瑣
解譜術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增應得到明顯的抑制
內置清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）目了然
標準配置
超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道術
鋼鐵行業測試專用配件
光路增強系統
信噪比電子線路單元
內置清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
應用域
鋼鐵檢測、粉末檢測、元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）
EDX4500鋁基粉末檢測儀，江蘇天瑞儀器股份有限公司
如需詳細了解，請聯系銷售熱線！！！
型號：EDX4500
EDX4500鋁基粉末檢測儀，江蘇天瑞儀器股份有限公司
性能參數
產品型號：EDX 4500
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
性能特點
超薄窗X光管，標達到水平
新的數字多道術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，度更。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器作的致性
信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手操作帶來的繁瑣
解譜術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增應得到明顯的抑制
內置清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）目了然
標準配置
超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道術
鋼鐵行業測試專用配件
光路增強系統
信噪比電子線路單元
內置清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安保護模式
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
應用域
鋼鐵檢測、粉末檢測、元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）
EDX4500鋁基粉末檢測儀，江蘇天瑞儀器股份有限公司
如需詳細了解，請聯系銷售熱線！！！
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高級版會員 第9年
認 證：企業信息已通過認證
公司名稱：江蘇天瑞儀器股份有限公司
主營業務：RoHS環保測試儀、RoHS2.0檢測儀、ROHS十項鄰苯測試儀、XRF、鹵素儀、重金屬測試儀、XRF、金屬鍍層測厚儀、金鎳厚測試儀、金屬...
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電話：138 0228 4651
手機：13802284651
郵件：rohsxrf@126.com
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