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天瑞儀器ROHS檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)介紹
發(fā)布時(shí)間：2024-08-14瀏覽次數(shù)：786返回列表
天瑞儀器ROHS檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)介紹
ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制件，相對(duì)簡(jiǎn)單。優(yōu)點(diǎn)a) 分析速度。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定度有關(guān)，但般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)樣品中的待測(cè)元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在分辨率的測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同族的元素也能行分析。e) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以行分析。f) 分析度。
天瑞儀器ROHS檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)介紹ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制件，相對(duì)簡(jiǎn)單。優(yōu)點(diǎn)a) 分析速度。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定度有關(guān)，但般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)樣品中的待測(cè)元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在分辨率的測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同族的元素也能行分析。e) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以行分析。f) 分析度。
