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FT-3120 系列半自動四探針測試儀
一.功能描述：
四點探針標準測試方法，采用步進系統自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數據、PC軟件采集和數據處理實現自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數據統計分析；提供標準校準電阻件.
FT-3120 系列半自動四探針測試儀
二.適用范圍：
晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.
FT-3120 系列半自動四探針測試儀
參數資料：
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規格型號 |
FT-3120B |
FT-3120C |
FT-3120D |
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1.電阻 |
10^-5～2×10^5Ω |
10^-6～2×10^5Ω |
10^-4～1×10^7Ω |
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2.方塊電阻 |
10^-5～2×10^5Ω/□ |
10^-6～2×10^5Ω/□ |
10^-4～1×10^7Ω/□ |
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3.電阻率 |
10^-6～2×10^6Ω-cm |
10^-7～2×10^6Ω-cm |
10^-5～2×10^8Ω-cm |
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4.測試電流 |
0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA， 10mA，100mA |
1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA |
10mA ---200pA |
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5.電流精度 |
±0.1% |
±2% |
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6.電阻精度 |
≤0.3% |
≤10% |
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7.PC軟件操作 |
PC軟件界面：電阻、電阻率、電導率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、數據管理分析：過程數據，大、小值，均值，方差，變異系數，樣品編號，測試點數統計報表生成等 |
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8.探針范圍選購： |
探針壓力為100-550g；依據樣品接觸需要手動調節 |
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9.探針 |
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3% 圓頭銅鍍金材質，探針間距1mm；2mm；3mm選配，其他規格可定制 |
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10.可測晶片 尺寸選購 |
晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）； 方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm |
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11.分析模式 |
自動或手動單點模式 |
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12.加壓方式 |
測量重復性：重復性≤3% |
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13.防護功能 |
具有限位量程和壓力保護;誤操作和急停防護;異常警報 |
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14.測試環境 |
實驗室環境 |
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15.電源 |
輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W |
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16.選購項目 |
電腦和打印機 |
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