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雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
雙電測方阻電阻率測試儀
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規格型號 |
FT-341 |
FT-342 |
FT-343 |
FT-345 |
FT-346 |
FT-347 |
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1.方塊電阻范圍 |
10-5～2×105Ω/□ |
10-4～2×103Ω/□ |
10-3～2×105Ω/□ |
10-3～2×103Ω/□ |
10-2～2×105Ω/□ |
10-2～2×103Ω/□ |
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2.電阻率范圍 |
10-6～2×106Ω-cm |
10-5～2×104-cm |
10-4～2×106Ω-cm |
10-4～2×104-cm |
10-3～2×106Ω-cm |
10-3～2×106Ω-cm |
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3.測試電流范圍 |
0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA |
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4.電流精度 |
±0.1%讀數 |
±0.2%讀數 |
±0.2%讀數 |
±0.3%讀數 |
±0.3%讀數 |
±0.3%讀數 |
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5.電阻精度 |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.5% |
≤0.5% |
≤0.5% |
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6.顯示讀數 |
大屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 |
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7.測試方式 |
雙電測量 |
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8.工作電源 |
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W |
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9.整機不確定性誤差 |
≤3%（標準樣片結果） |
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10.選購功能 |
選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 |
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雙電測方阻電阻率測試儀
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
