光譜儀EDX8800E 能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)

產品/服務：光譜儀EDX8800E 能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)
型號：光譜儀EDX8800E
單價：面議
更新日期：2024-09-23
有效期至：長期有效
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產品簡介

能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)產品特點1. 采用的美國原裝進口SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探測器...

產品詳細介紹

能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E(真空型)

產品特點

1. 采用的美國原裝進口SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探測器，分辨率更高，大大提高了輕元素的檢出限，標準檢出限較SI-PIN探測器提高100倍；測量范圍更寬，基本涵蓋了各種常規材料元素分析要求；

2. 配置美國原裝進口數據集成處理系統，數據采集速度更快，測量更穩定，重復性和長期穩定性更好；

3. 配置新開發的專用測量軟件，集成多種圖形計算方法，測量數據更，更穩定；

4. 軟件監控儀器主要核心部件運行狀態，使用更安全；

5. 配置專門開發的真空系統，真空性能更好，測試效果更佳；

技術參數:

1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)

2..元素含量分析范圍為1ppm到99.99％

3. zui低檢出限：1ppm

4. 測量時間：60-200秒(可調)

5. 儀器工作電源：AC220±5V

6. 能量分辨率為129±5eV

7. X 射線光管zui大輸出電流：1mA

8. 限壓力：6.7×10^-2 Pa

9.樣品腔尺寸：610*320*100(mm)（不抽真空）/Φ100*h75(mm) (真空樣品腔)

10.多次測量重復性(以標準樣品為準)：±0.05％（高含量）/±0.002％(微量)

11.長期工作穩定性(以標準樣品為準)±:0.06％ (高含量）/±0.0025％(微量)

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