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熱式風(fēng)速儀/風(fēng)速計(jì)/針式風(fēng)速儀(0.05-10m/s ) 型號(hào):BJJ/QDF-2A是種便攜式、智能化的低風(fēng)速測(cè)量?jī)x表,在測(cè)量管道環(huán)境及采...
1.熱式風(fēng)速儀/風(fēng)速計(jì)/針式風(fēng)速儀(0.05-10m/s ) 型號(hào):BJJ/QDF-2A
是種便攜式、智能化的低風(fēng)速測(cè)量?jī)x表,在測(cè)量管道環(huán)境及采暖、空調(diào)制冷、環(huán)境保護(hù)、節(jié)能監(jiān)測(cè)、氣象、農(nóng)業(yè)、冷藏、干燥、勞動(dòng)衛(wèi)生調(diào)查、潔凈車間、化纖紡織,各種風(fēng)速實(shí)驗(yàn)等方面有廣泛用途。
術(shù)標(biāo)
測(cè)量范圍 0.05-10m/s
(溫 度/濕度)使用條件 -10-40℃,不大于85%
誤差:±4%U
分辯率:0.01m/s
電池壽命>20h
重 量:2.5kg
2.電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀 型號(hào):HHY8-DB-4
HHY8-DB-4電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3—94研究成的測(cè)量設(shè)備,主要用于測(cè)量電纜用橡膠和塑料半導(dǎo)電材料中間試樣電阻率以及各種導(dǎo)電橡塑產(chǎn)品電阻,若換上特殊的四端子測(cè)試夾,還可以對(duì)金屬導(dǎo)體材料及產(chǎn)品的低、中值電阻行測(cè)量
經(jīng)過(guò)了十多年的實(shí)際運(yùn)行,近百家主要電纜廠和生產(chǎn)半導(dǎo)電屏蔽材料廠均已采用了該儀器,它是目前符合標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3-94的測(cè)量半導(dǎo)電橡塑材料電阻率的儀器。
儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu),主要由電氣箱、測(cè)試架兩大分組成,固定在專用作臺(tái)上,電氣箱包括靈敏的直流數(shù)字電壓表和穩(wěn)定的直流恒流源,測(cè)量結(jié)果采用LED數(shù)字直接顯示,測(cè)量電流輸出也采用LED數(shù)字顯示,從0—100mA范圍內(nèi)可意調(diào)節(jié),可達(dá)到控制測(cè)試率損耗的規(guī)定,儀器測(cè)試架由電、壓力探頭、樣品臺(tái)及電動(dòng)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)組成,操作按鍵電鈕,可行半自動(dòng)測(cè)量。
儀器具有測(cè)量度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn),符合和標(biāo)準(zhǔn)的要求。
儀器適用于電纜廠、導(dǎo)電橡塑材料廠、計(jì)算機(jī)廠、電子表廠、等院校、科學(xué)研究等門,對(duì)于導(dǎo)電橡塑材料及產(chǎn)品的電阻性能測(cè)試、藝檢測(cè),是需的測(cè)試設(shè)備。
儀器主要術(shù)標(biāo):
、 測(cè)量范圍:10-4--103Ω-cm可擴(kuò)展到105Ω-cm;分辯率10-6Ω-cm
二、 數(shù)字電壓表:
1. 量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V
2. 測(cè)量誤差 0.2mA檔±(0.5%讀數(shù)+8字);2mV—2V擋±(0.5%讀數(shù)+2字)
3. 顯示3 1/2 位數(shù)字顯示0—1999具有性和過(guò)載自動(dòng)顯示,小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示。
三、 恒流源:
1. 電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給,數(shù)字顯示
2. 量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
3. 電流誤差:±(0.5%讀數(shù)+2字)
四、 測(cè)量電:
1. 電流電:寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm,兩個(gè)電流電間的距離110mm
2. 電位電:寬度50mm,接觸半徑
五、電源:220±10% 50HZ或60HZ 率消耗<50W
六、外形尺寸(包括測(cè)試作臺(tái))1200×600×1050mm(長(zhǎng)×寬×)
3.二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀 型號(hào):HHY8-GL-1
本儀器主要用于測(cè)量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況,以便硅材料的切割和加。
為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展,特別是計(jì)算機(jī)芯片、內(nèi)存的發(fā)展,越來(lái)越多的使用到了大直徑、純度、均勻度的單晶硅材料。目前,在美、德等的業(yè),均采用了二探針?lè)ǎ褂枚结槞z測(cè)儀來(lái)測(cè)量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。
儀器符合美ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測(cè)量硅單晶試驗(yàn)方法》的標(biāo)準(zhǔn),是種的半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀,適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針?lè)y(cè)量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率,從而步判斷半導(dǎo)體材料的性能,導(dǎo)和監(jiān)視藝操作,也可以用來(lái)測(cè)量金屬材料的電阻,儀器具有測(cè)量度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、型美觀等特點(diǎn)。也可以配四探針測(cè)試頭作常規(guī)的四探針?lè)y(cè)量硅晶體材料。
儀器分為儀表電氣控制箱、測(cè)試臺(tái)、探頭三分,儀表電氣控制箱由靈敏度直流數(shù)字電壓表、抗干擾隔離性能的電源變換裝置、穩(wěn)定恒流源和電氣控制分組成。測(cè)量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示,零位穩(wěn)定、輸入阻抗,并設(shè)有自校能。在棒狀材料使用二探針?lè)y(cè)試時(shí),具有系數(shù)修正能,從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù),可以直接讀出電阻率,使用方便。測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu)新穎,型美觀,可以方便地固定好大小意尺寸的樣品,并可以作逐點(diǎn)選擇步測(cè)量,也可以自由選擇固定位置測(cè)量,電活動(dòng)自如,具備鎖定裝置,方便重復(fù)測(cè)量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅,測(cè)試探頭能自動(dòng)升降,探針為碳化鎢材料,配置寶石軸承,具有測(cè)量度、游移率小、耐磨、使用壽命長(zhǎng)特點(diǎn)。同時(shí)探頭壓力恒定并且可調(diào)整,以適合不同的材料。
儀器主要術(shù)標(biāo):
1.可測(cè)硅材料尺寸:
直徑Φ25~Φ150mm滿足ASTM F-397的術(shù)要求。
長(zhǎng)度:100~1100mm.
2.測(cè)量方式:軸向測(cè)量,每隔10mm測(cè)量點(diǎn)。
3.測(cè)量電阻率范圍:10-3~103Ω-cm,可擴(kuò)展到105Ω-cm。
4.數(shù)字電壓表:
(1)量 程:0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測(cè)量誤差:±0.3%讀數(shù)±2字
(3)輸入阻抗:0.2mV和2mV檔>106Ω
20mV檔及以上>108Ω
(4)顯 示:31/2位LED數(shù)字顯示,范圍0~1999。
5.恒流源:
(1)電流輸出:直流電流0~100mA連續(xù)可調(diào)。
(2)量 程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
(3)電流誤差:±0.3%讀數(shù)±2字
6.二探針測(cè)試裝置:
(1)探針間距:4.77mm
(2)探針機(jī)械游移率:0.3%
(3)探針壓力:0~2kg可調(diào)
(4)測(cè)試探頭自動(dòng)升降
7.二探針測(cè)試臺(tái)
(1)測(cè)試硅單長(zhǎng)度:100-1100mm
(2)測(cè)試點(diǎn)間距:10mm
(3)測(cè)試臺(tái)有慢、快二種移動(dòng)速度,快速移動(dòng)速度為1000mm/分(均勻
手動(dòng))
8.電源:交流220V±10%,50HZ±2HZ,消耗率<150W
溫馨提示:以上發(fā)布的產(chǎn)品資料和圖片都是按順序相對(duì)應(yīng)的
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