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便攜式電阻測度儀按照半導體材料電阻率的及標準測試方法有關規定設計。
發布時間：2017-12-11瀏覽次數：1859返回列表
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的及標準測試方法有關規定設計。
它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同一塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分選材料也可以用來作產品檢測。對1～100Ω·cm標準樣片的測量誤差不超過±5%，在此范圍內達到標準二級機的水平。
2、測試儀結構及原理
測試主機由主機板、前面板、后背板及機箱組成，數字表、測試電流換檔開關、電阻率/方阻轉換開關、校準/測量變換開關以及電流調節電位器均裝在前面板上。后背板上只裝有電源插座、電源開關、保險管及四探針連接插座。機箱底板上字裝了主機板。前后面板與主機板之間的聯接均采用接插件，便于拆卸維修。
