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產品詳情
- 產品/服務：DP-M3 手持式電阻率測試儀/方塊電阻率儀
- 型 號：DP-M3
- 品 牌：亞歐
- 單 價：面議
- 更新日期：2024-09-23
- 有效期至：長期有效
- 瀏覽次數：2669
產品簡介
手持式電阻率測試儀/方塊電阻率儀 型號;DP-M3概述 DP-M3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美 A.S.T.M 標準。...
產品詳細介紹
手持式電阻率測試儀/方塊電阻率儀 型號;DP-M3
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概述 DP-M3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美 A.S.T.M 標準。
成套組成：由MDP-M3主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動/自動轉換量程可選；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
《四探針探頭點與選型參考》點擊入
儀器具有測量精度、靈敏度、穩定性好、智能化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。
三、基本技術參數1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率: 0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
方塊電阻: 0.050～ 100.0kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直 徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～1DP-M30mm。
SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
量程劃分及誤差等
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量程（Ω-cm/□）
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2.000
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20.00
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200.0
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2.000k
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20.00k
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電阻測試范圍
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0.010～2.200
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2.000～22.00
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20.00～220.0
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0.200～2.200k
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2.000～50.00k
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電阻率/方阻
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0.010/0.050～2.200
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2.000～22.00
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20.00～220.0
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0.200～2.200k
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2.000～20.00k
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基本誤差
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±1%FSB±2LSB
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±2%FSB±2LSB
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4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重：≤0.3kg
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