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BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀由,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。...
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀,熱電材料塞貝克系數(shù)測試儀
關鍵詞:熱電,Seebeck系數(shù),電導率,電阻率,n或p型熱電材料π對熱電轉(zhuǎn)換效
產(chǎn)品介紹:
對于熱電材料的研究,熱電性能測試是不可或缺的試驗數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導率。主要原理和特點如下:
該裝置由,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
一、測試原理
原理:(1)通過測量派對或器件開路電壓和短路電流求得派對或器件的zui大輸出功率。(2)采用合適尺寸的溫差電熱流量計測量通過熱電派對或器件的熱流量,其溫差電熱流量計的工作原理是:當對溫差電制冷片通電時,其一端降溫一端升溫,降溫端朝向熱電材料的冷端,升溫端連接恒溫的冷卻水(恒溫),利用經(jīng)過校準的通過熱量計的高低溫端工作溫度--制冷量關系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計的熱流量,即為通過派對或器件的熱流。(3)將zui大輸出功率與通過的熱流相比求得zui大轉(zhuǎn)換效率。
一、適用范圍:
1、碲化鉍類、碲化鉛類、碲化鍺類、方鈷礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱電材料π對與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個相同或不相同的n或p型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。(外)
2、地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導率、電阻率。
3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
4、擁有自身分析軟件,分析,過程自動控制,界面友好。
二、技術特點:
·解決高溫下溫控精度不準的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。
·熱電材料π對與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測試,用于測試、分析和研究兩個相同或不相同的n或p型熱電材料π對的熱電轉(zhuǎn)換效率。
· 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
·試樣采用獨特的焊偶機構,保證接觸電阻zui小以及測量結果的高重現(xiàn)性。
· 每次可測試1-3個樣品.
· 采用數(shù)據(jù)采集技術,避免電路板數(shù)據(jù)采集技術帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。
· 具備真空和Ar氣保護兩種工況選項。
四、主要技術參數(shù):
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BKTEM-D1 |
BKTEM-D2 |
BKTEM-D3 |
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測量溫度 |
室溫-600℃ |
室溫-600℃ |
室溫-600℃ |
|
同時測試樣品數(shù)量 |
1個 |
2個 |
3個 |
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控溫精度 |
0.5K(溫度波動:≤±0.1℃) |
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熱流量測量 |
采用溫差電熱流計測量流經(jīng)試樣卻沒有被轉(zhuǎn)換的熱流 |
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測量原理 |
塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法 |
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測量范圍 |
塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm |
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分辨率 |
塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù): 10nOhm |
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測量精度 |
塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5% |
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樣品尺寸 |
方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長 |
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|
熱電偶導距 |
≥6 mm |
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電 流 |
0 to 160 mA |
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氣 氛 |
減壓He(具備真空和Ar氣保護兩種工況選項,真空工況下,真空度:≤6×10-2 Pa;) |
||
|
加熱電相數(shù)/電壓 |
單相,220V, |
||
|
熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率 |
0.01?W~10W |
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|
夾具接觸熱阻 |
≤0.05 m2K/W,夾具界面石墨或Ag化處理 |
||
圖1 單一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖
圖2 雙樣品測試系統(tǒng)原理示意圖
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