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桂林電子科技大學咨詢采購JKZC-YDZK03A壓電阻抗綜合測試系統一套
發布時間：2022-07-15瀏覽次數：1145返回列表
桂林電子科技大學咨詢采購JKZC-YDZK03A壓電阻抗綜合測試系統一套
近日，桂林電子科技大學咨詢采購JKZC-YDZK03A壓電阻抗綜合測試系統一套，是一款多用途的綜合測試系統，即可用于縱向壓電D33測試，豎向D15,橫向D31等性能測試，也可以用于用于用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測試，是對壓電器件和設備進行頻率掃描和阻抗測量分析的超值解決方案，可以快捷方便地測試壓電器件的各項參數特性,正反諧振阻抗及壓電材料的電容等相關系數，是研究壓電材料和阻抗分析的綜合設備，是科研的重要輔助設備。
二、主要技術參數：
頻率：10HZ-30MHZ
測試電平：AC: AC電壓:5mV - 2Vrms ,分辨率：1mV, DC：±40V，分辨率：1mV
測試參數：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc
顯微鏡：630萬像素，偏光觀察模式
薄膜平臺：30*30MM樣品臺,探針連接
×1擋：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升級到10000PC/N.
×0.1擋： 1到200pC/N，2 至400pC/N。
可以配套PZT-JH10/4/8/12型壓電極化裝置使用
可以配套ZJ-D33-YP15壓電壓片機使用
誤差：×1擋：±2%±1個數字，當d33在100到4000pC/N；
計量標定標準樣尺寸：18mm*0.8mm，老化時間：2-3年（評判壓電測試儀準確性能的重要依據之一）
提供壓電薄膜標準片：20*20MM
電壓保護：獨有的放電保護功能
±5%±1個數字，當d33在10到200pC/N；
×0.1擋：±2%±1個數字，(當d33在10到200pC/N)
±5%±1個數字，當d33在10到20pC/N。
分辨率： ×1擋：1 pC/N；×0.1擋：0.1 pC/N。
尺寸：施力裝置：Φ110×140mm；儀器本體：240×200×80mm。
